[发明专利]多平面微阵列

说明书

一种阵列，包括固体载体，所述固体载体具有沿着其外表面的多个轮廓。轮廓的第一子集沿着固体载体的外表面定位以形成第一特征图案，并且轮廓的第二子集沿着外表面定位以形成第二特征图案。第一子集的轮廓与第二子集的轮廓沿着外表面并置，由此第一图案和第二图案沿着外表面形成交错图案。第一图案的特征出现在第一高度z1处，第二图案的特征出现在第二高度z2处。第一图案的特征被配置为将分析物附接在相对于附接到第二图案的特征的分析物的不同高度处。

本申请是申请号为201780006200.X、申请日为2017年3月28日、发明名称为“多平面微阵列”的发明专利申请的分案申请。

相关申请的交叉引用

本申请要求2016年3月28日提交的题为“MULTI-PLANE MICROARRAYS”的美国临时申请No.62/313,982的优先权和权益，其全部内容通过引用并入本文。

背景技术

生物学或化学研究中的各种规程涉及在固体载体表面上或在预定的反应室内进行大量受控反应。然后可以观察或检测所期望的反应，且随后的分析可以帮助识别或揭示反应中涉及的化学物质的性质。例如，在一些多重测定中，具有可识别标记(例如荧光标记)的未知分析物可在受控条件下暴露于数千种已知探针。每个已知的探针可以放置到表面上的对应位置中。观察在表面上发生的已知探针和未知分析物之间的特定化学反应可有助于识别或揭示分析物的性质。此类协议的示例包括已知的DNA测序方法，诸如合成测序(SBS)或已知的核酸微阵列规程，诸如RNA表达分析或基因分型分析。

在一些传统的荧光检测规程中，光学系统用于将激发光引导到荧光标记的分析物上，并且还检测可能从分析物发射的荧光学信号。标准成像技术的分辨率受到检测装置中可用的像素数量等的限制。因此，当检测具有大量分析物的表面时，这些光学系统可能相对昂贵并且需要相对大的台式占地面积。例如，用于基因分型、表达或测序分析的核酸阵列可能需要检测阵列上每平方厘米的数百万个不同位点。分辨率的限制增加成本并降低这些分析的准确性。

因此，需要更高分辨率的设备和方法，例如，用于检测核酸阵列。本公开解决了这种需要并且还提供了其他优点。

发明内容

本公开的一些实施例涉及生物或化学分析，并且更具体地涉及使用用于生物或化学分析的检测装置的系统和方法。

本公开提供了一种阵列，其包括固体载体，所述固体载体包括沿着固体载体的外表面的多个轮廓。轮廓的第一子集沿着固体载体的外表面定位以形成第一特征图案，并且轮廓的第二子集沿着固体载体的外表面定位以形成第二特征图案。第一子集的轮廓与第二子集的轮廓沿着外表面并置，由此第一图案和第二图案沿着外表面形成交错图案。第一图案的特征出现在第一高度z1处，第二图案的特征出现在第二高度z2处。所述特征包括用于分析物的附接点，由此第一图案的特征被配置为将分析物附接在相对于附接到第二图案的特征的分析物的不同高度处。

本公开还提供了一种阵列，所述阵列包括固体载体、沿着固体载体的外表面定位的第一特征图案、以及沿着固体载体的外表面定位并与第一特征图案交错的第二特征图案。第一图案的特征出现在第一高度z1处，第二图案的特征出现在第二高度z2处。第一图案和第二图案的特征包括用于分析物的附接点，第一图案的特征被配置为将分析物附接在相对于附接到第二图案的特征的分析物的不同高度处。

本公开还提供了一种检测多种分析物的方法，包括提供包括固体载体的阵列，所述固体载体包括沿着所述固体载体的外表面的第一分析物特征图案和第二分析物特征图案，其中，第一图案的分析物特征出现在第一高度z1处，第二图案的分析物特征出现在第二高度z2处，并且其中，第一图案和第二图案沿着外表面形成交错图案。在第一高度z1处检测信号，由此第一图案的各个分析物特征彼此区分。还在第二高度z2处检测信号，由此第二图案的各个分析物特征彼此区分，其中，通过选择性地检测与第二高度z2处的特征相比较的第一高度z1处的特征，将第一图案中的分析物特征与第二图案中的最近邻分析物特征区分开。

附图说明