[发明专利]一种轴系对中方法以及测量工装

权利要求书

1.一种轴系对中方法，所述轴系包括主轴段和待测轴段，其特征在于，包括以下几个步骤：

1)通过测量装置确定轴系对中参数；所述轴系对中参数为偏移值和/或曲折值；

所述测量装置至少包括测量装置A和测量装置B，且所述测量装置的测量杆均沿所述轴系的径向设置，所述测量装置沿轴向间隔设置并且位于所述轴系的同一条母线上；

所述偏移值的确定方法具体为：将所述测量装置A设置在所述主轴段上，所述测量装置B设置在所述待测轴段上，并且使所述测量装置的测量杆端部分别与所在轴段的外圆面相接触，获取所述测量装置A和所述测量装置B的测量数据，计算两个所述测量数据的差值Δ1，将差值Δ1记为两轴段之间轴线的偏移值；

所述曲折值的确定方法具体为：将所述测量装置A和所述测量装置B间隔设置在所述待测轴段上，并且使所述测量装置的测量杆端部分别与所在轴段的外圆面相接触，获取所述测量装置A和所述测量装置B的测量数据，计算两个所述测量数据的差值Δ2；获取所述测量装置A和所述测量装置B沿轴段方向的距离d；将arctan(Δ2/d)的值记为两轴段之间的曲折值；

2)轴系对中判断，根据计算得到的偏移值和/或曲折值，判断当前轴系是否对中，若判断结果为轴系未对中、不满足设计要求，则相应调整所述主轴段和所述待测轴段的相对位置，以使所述轴系对中、满足设计要求。

2.如权利要求1所述的轴系对中方法，其特征在于，所述轴系对中方法还包括步骤3)对中校核，所述轴系对中判断结果为轴系未对中时，在调整所述轴系的相对位置之后，对所述轴系进行所述对中校核，所述对中校核具体包括：重复步骤1)和步骤2)，直至确定的所述测量轴系对中参数满足设计要求。

3.如权利要求1所述的一种轴系对中方法，其特征在于，所述通过测量装置确定轴系对中参数，具体包括：在所述轴系上设置至少一套所述测量装置；每套所述测量装置均至少包括所述测量装置A、所述测量装置B，不同套所述测量装置沿周向间隔分布。

4.如权利要求3所述的轴系对中方法，其特征在于，所述通过测量装置确定轴系对中参数，具体包括：在所述轴系上设置两套所述测量装置，两套所述测量装置位于所述轴系的同一直径方向。

5.如权利要求4所述的一种轴系对中方法，其特征在于，每套所述测量装置包括设置在所述主轴段上的测量装置A以及间隔设置在所述待测轴段上的测量装置B和测量装置C；且所述测量装置的测量杆均沿所述轴系的径向设置，所述测量装置沿轴向间隔设置并且位于所述轴系的同一条母线上，并且使所述测量装置的测量杆端部分别与所在轴段的外圆面相接触；

所述偏移值的确定方法具体为：获取所述主轴段上的所述测量装置A的测量数据和待测轴段上的所述测量装置B或所述测量装置C的测量数据，计算两个所述测量数据的差值Δ1，将差值Δ1记为两轴段之间的轴线偏移；

所述曲折值的确定方法具体为：获取所述待测轴段上的所述测量装置B的测量数据和所述测量装置C的测量数据，计算两个所述测量数据的差值Δ2；获取所述测量装置B和所述测量装置C沿轴段方向的距离d；将arctan(Δ2/d)的值记为两轴段之间的曲折值。

6.如权利要求5所述的轴系对中方法，其特征在于，所述通过测量装置确定轴系对中参数，具体包括，获取每一套所述测量装置中所述测量装置A、所述测量装置B和所述测量装置C的测量数据，分别计算两套测量装置对应的偏移值和曲折值，取两套测量装置计算结果的平均值作为最终的轴系对中参数。

7.如权利要求5所述的轴系对中方法，其特征在于，其特征在于，所述测量装置A、所述测量装置B和所述测量装置C均为深度千分尺。