[发明专利]一种背钻孔检测设备和方法

权利要求书

1.一种背钻孔检测设备，其特征在于，包括：

检测平台，所述检测平台用于放置待检测电路板；

第一光源，所述第一光源设置于所述检测平台的上方，用于对所述检测平台上所述待检测电路板进行补光；

第二光源，所述第二光源设置于所述检测平台的下方，用于对所述检测平台上所述待检测电路板进行补光；

线扫相机，所述线扫相机设置于所述检测平台的上方，用于通过线扫远心镜头采集放置于所述检测平台上待检测电路板的背钻孔图像；

处理器，所述处理器分别与所述线扫相机、所述第一光源和所述第二光源电连接，用于控制所述第一光源和所述第二光源开启，以对所述待检测电路板进行补光，并基于从所述线扫相机采集的背钻孔图像中获取到的圆环中内圆和外圆，对所述待检测电路板上的背钻孔进行同心度检测。

2.根据权利要求1所述的背钻孔检测设备，其特征在于，所述处理器具体用于：

从所述背钻孔图像中，分别提取每个圆环中内圆和外圆的边缘；其中，所述内圆为通孔，所述外圆为背钻孔；

基于所述每个圆环的内圆边缘，确定所述每个内圆的第一中心点，以及基于每个圆环的外圆边缘，确定每个外圆的第二中心点；

基于所述第一中心点和所述第二中心点，确定每个背钻孔的同心度；

基于所述每个背钻孔的同心度和偏差区间，对所述每个背钻孔进行检测。

3.根据权利要求2所述的背钻孔检测设备，其特征在于，所述处理器还用于：

基于边缘提取算法提取所述背钻孔图像进行外圆边缘和内圆边缘，得到外圆边缘集合和内圆边缘集合；

对所述背钻孔图像上与所述外圆边缘集合中像素级别边缘对应的边缘位置进行亚像素级别边缘提取，并对提取到的亚像素级别边缘集合进行拟合，得到所述外圆；

对所述背钻孔图像上与所述内圆边缘集合中像素级别边缘对应的边缘位置进行亚像素级别边缘提取，并对提取到的亚像素级别边缘集合进行拟合，得到所述内圆。

4.根据权利要求2所述的背钻孔检测设备，其特征在于，所述处理器还用于：

若任意背钻孔的同心度位于所述偏差区间，则确定所述背钻孔检查通过；

若任意背钻孔的同心度未位于所述偏差区间，则确定所述背钻孔检测未通过。

5.根据权利要求1所述的背钻孔检测设备，其特征在于，还包括：

第三光源，所述第三光源设置于所述检测平台的上方，用于对所述检测平台上所述待检测电路板进行补光。

6.根据权利要求1所述的背钻孔检测设备，其特征在于，还包括：

驱动模块，所述驱动模块分别与所述处理器和所述检测平台电连接，用于基于所述处理器发送的控制指令，将所述检测平台上的待检测电路板移动至所述线扫相机的下方。

7.根据权利要求1-6中任一项所述的背钻孔检测设备，其特征在于，第一光源为同轴线性光源；第二光源为条形光源；第三光源为线性光源。

8.一种背钻孔检测方法，其特征在于，应用于权利要求1-7中任一项所述的背钻孔检测设备，所述方法包括：

检测到检测平台上放置有待检测电路板时，控制第一光源和第二光源开启，以对所述待检测电路板进行补光；

控制线扫相机中的线扫远心镜头，采集放置于所述检测平台上所述待检测电路板的背钻孔图像；

基于从所述线扫相机采集的背钻孔图像中获取到的圆环中内圆和外圆，对所述待检测电路板上的背钻孔进行同心度检测。