[发明专利]非易失型芯片内部单步测试方法、装置、存储介质、终端有效
| 申请号： | 202011589882.1 | 申请日： | 2020-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN112530511B | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 黎永健;刘佳庆;蒋双泉 | 申请（专利权）人： | 芯天下技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 佛山市海融科创知识产权代理事务所(普通合伙) 44377 | 代理人： | 陈志超;唐敏珊 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区园山街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 非易失型 芯片 内部 测试 方法 装置 存储 介质 终端 | ||
1.一种非易失型芯片内部单步测试方法，其特征在于，具体包括以下步骤：
接收单步测试配置；
接收操作指令，根据单步测试配置启动对应的操作测试；
获取操作测试中对应步骤的测试结果；
对测试结果进行分析，最终得到Nor Flash芯片测试步骤组合，所述Nor Flash芯片测试步骤组合为不同的步骤及其循环次数的组合；
所述接收单步测试配置，具体包括以下步骤：
s11：接收进入单步测试模式使能；
s12：配置操作中需要执行单步测试的步骤；
s13：复用正常执行操作时的步骤；
s14：配置操作中需要执行单步测试的步骤的判断步骤；
所述获取操作测试中对应步骤的测试结果，包括以下过程：接收Nor Flash 芯片执行完操作测试中对应步骤后输出的操作测试中对应步骤的测试结果。
2.根据权利要求1所述的非易失型芯片内部单步测试方法，其特征在于，所述操作包括编程操作或者擦除操作。
3.一种非易失型芯片内部单步测试装置，其特征在于，包括：
接收配置模块，接收单步测试配置；
操作指令启动模块，接收操作指令，根据单步测试配置启动对应的操作测试；
测试结果获取模块，获取操作测试中对应步骤的测试结果；
分析模块，对测试结果进行分析，最终得到Nor Flash芯片测试步骤组合，所述NorFlash芯片测试步骤组合为不同的步骤及其循环次数的组合；
所述接收单步测试配置，具体包括以下步骤：
s11：接收进入单步测试模式使能；
s12：配置操作中需要执行单步测试的步骤；
s13：复用正常执行操作时的步骤；
s14：配置操作中需要执行单步测试的步骤的判断步骤；
所述获取操作测试中对应步骤的测试结果，包括以下过程：接收Nor Flash 芯片执行完操作测试中对应步骤后输出的操作测试中对应步骤的测试结果。
4.根据权利要求3所述的非易失型芯片内部单步测试装置，其特征在于，所述接收配置模块可以采用配置有SPI接口的配置测试寄存器实现。
5.根据权利要求3所述的非易失型芯片内部单步测试装置，其特征在于，所述测试结果获取模块通过SPI接口接收Nor Flash 芯片执行完操作测试中对应步骤后输出的操作测试中对应步骤的测试结果。
6.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有计算机程序，当所述计算机程序在计算机上运行时，使得所述计算机执行权利要求1或2所述的方法。
7.一种终端，其特征在于，包括处理器和存储器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器通过调用所述存储器中存储的所述计算机程序，用于执行权利要求1或2所述的方法。
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