[发明专利]扬声器的T/S参数测量方法、测量装置和电子设备

权利要求书

1.一种扬声器的T/S参数测量方法，其特征在于，包括：

获取所述扬声器在振膜带负载时的第一阻抗曲线和振膜空载时的第二阻抗曲线；

获取所述扬声器的等效电路的结构，基于所述等效电路的结构，确定所述等效电路的等效阻抗；

基于所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线，确定所述等效电路的等效参数的初始值；

以所述等效电路的等效阻抗和从所述第二阻抗曲线读取的测量阻抗之间的差异度最小为目标，对所述等效参数进行调整，得到测量结果，其中，所述等效阻抗的初始值为将所述等效参数的初始值所述等效阻抗的函数得到。

2.根据权利要求1所述的扬声器的T/S参数测量方法，其特征在于，所述以所述等效电路的等效阻抗和从所述第二阻抗曲线读取的测量阻抗之间的差异度最小为目标，对所述等效参数进行调整，得到测量结果，包括：

确定所述等效阻抗与所述测量阻抗之间的差异度；

基于所述差异度，更新所述等效参数；

确定所述差异度不小于目标值，基于更新的所述等效参数，重新确定所述等效阻抗与所述测量阻抗之间的差异度，直至确定所述差异度小于所述目标值，以最后一次更新的所述等效参数作为所述测量结果。

3.根据权利要求2所述的扬声器的T/S参数测量方法，其特征在于，所述更新所述等效参数包括：

确定所述等效参数相对于所述差异度的导数；

基于所述导数，更新所述等效参数。

4.根据权利要求2所述的扬声器的T/S参数测量方法，其特征在于，所述等效阻抗与所述测量阻抗之间的差异度为，所述等效阻抗与所述测量阻抗的差的平方和。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的扬声器的T/S参数测量方法，其特征在于，所述获取所述扬声器的等效电路的结构，包括：

将所述扬声器的力学特征转换为电学特征，得到所述等效电路的结构。

6.根据权利要求5所述的扬声器的T/S参数测量方法，其特征在于，所述基于所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线，确定所述等效电路的等效参数的初始值，包括：

基于所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线，确定所述扬声器的力学参数和电力转换因子；

基于所述力学参数和所述电力转换因子，确定所述等效电路的等效参数的初始值。

7.根据权利要求6所述的扬声器的T/S参数测量方法，其特征在于，所述基于所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线，确定所述扬声器的力学参数和电力转换因子，包括：

基于所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线的中心角频率以及所述负载的质量，确定所述扬声器力学端的力顺；

基于所述力顺和所述第二阻抗曲线的中心角频率，确定所述扬声器力学端的质量；

基于所述第二阻抗曲线，确定所述扬声器的品质因数；

基于所述品质因数和所述扬声器力学端的质量，确定所述电力转换因子。

8.一种扬声器的T/S参数测量装置，其特征在于，包括：

第一获取模块，用于获取所述扬声器在振膜带负载时的第一阻抗曲线和振膜空载时的第二阻抗曲线；

第二获取模块，用于获取所述扬声器的等效电路的结构，基于所述等效电路的结构，确定所述等效电路的等效阻抗；

第一确定模块，用于基于所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线，确定所述等效电路的等效参数的初始值；

拟合模块，用于以所述等效电路的等效阻抗和从所述第二阻抗曲线读取的测量阻抗之间的差异度最小为目标，对所述等效参数进行调整，得到测量结果，其中，所述等效阻抗的初始值为将所述等效参数的初始值所述等效阻抗的函数得到。

9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至7任一项所述扬声器的T/S参数测量方法的步骤。

10.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述扬声器的T/S参数测量方法的步骤。