[发明专利]扬声器的T/S参数测量方法、测量装置和电子设备

说明书

本发明提供一种扬声器的T/S参数测量方法、测量装置和电子设备，扬声器的T/S参数测量方法包括：获取扬声器在振膜带负载时的第一阻抗曲线和空载时的第二阻抗曲线；获取扬声器的等效电路的结构，确定等效电路的等效阻抗；基于第一阻抗曲线和第二阻抗曲线，确定等效电路的等效参数的初始值；以等效电路的等效阻抗和从第二阻抗曲线读取的测量阻抗之间的差异度最小为目标，对等效参数进行调整，得到测量结果。本发明的扬声器的T/S参数测量方法，通过建立等效阻抗函数，并以从阻抗曲线测量得到的参数作为初始值进行逐步优化，在采集较少频点的情况下，就可得到准确的测量结果，且测量花费的时间少，有助于提高耳机的研发质量，加快研发速度。

技术领域

本发明涉及声学技术领域，尤其涉及一种扬声器的T/S参数测量方法、测量装置和电子设备。

背景技术

扬声器广泛应用于耳机等电子设备中，在设计扬声器时，需要先测量其参数，以便于后续结构的设计。其中，T/S参数是应用范围最广、最为广大电声行业从业者承认的一组参数。

现有技术中，在测量T/S参数时，通常都是直接对阻抗曲线上的有限个频点的逐点扫频，来读取中心频率、峰值以及带宽用于后续计算，由于频点数量很少，使得测量结果不准确。为了提高准确度，相关技术中，会测量多组曲线，取平均值，或者采用自定义频点数量，对更多的频点进行逐点扫频，但是这会拉长测量耗费的时间，且对准确度的提升有限。

发明内容

本发明提供一种扬声器的T/S参数测量方法、测量装置和电子设备，用以解决现有技术中测量不准的缺陷，实现高效和高质量检测。

本发明提供一种扬声器的T/S参数测量方法，包括：

获取所述扬声器在振膜带负载时的第一阻抗曲线和振膜空载时的第二阻抗曲线；

获取所述扬声器的等效电路的结构，基于所述等效电路的结构，确定所述等效电路的等效阻抗；

基于所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线，确定所述等效电路的等效参数的初始值；

以所述等效电路的等效阻抗和从所述第二阻抗曲线读取的测量阻抗之间的差异度最小为目标，对所述等效参数进行调整，得到测量结果。

根据本发明提供的一种扬声器的T/S参数测量方法，所述以所述等效电路的等效阻抗和从所述第二阻抗曲线读取的测量阻抗之间的差异度最小为目标，对所述等效参数进行调整，得到测量结果，包括：

确定所述等效阻抗与所述测量阻抗之间的差异度；

基于所述差异度，更新所述等效参数；

确定所述差异度不小于目标值，基于更新的所述等效参数，重新确定所述等效阻抗与所述测量阻抗之间的差异度，直至确定所述差异度小于所述目标值，以最后一次更新的所述等效参数作为所述测量结果。

根据本发明提供的一种扬声器的T/S参数测量方法，所述更新所述等效参数包括：

确定所述等效参数相对于所述差异度的导数；

基于所述导数，更新所述等效参数。

根据本发明提供的一种扬声器的T/S参数测量方法，所述等效阻抗与所述测量阻抗之间的差异度为，所述等效阻抗与所述测量阻抗的差的平方和。

根据本发明提供的一种扬声器的T/S参数测量方法，所述获取所述扬声器的等效电路的结构，包括：

将所述扬声器的力学特征转换为电学特征，得到所述等效电路的结构。

根据本发明提供的一种扬声器的T/S参数测量方法，所述基于所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线，确定所述等效电路的等效参数的初始值，包括：

基于所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线，确定所述扬声器的力学参数和电力转换因子；