[发明专利]一种线损点检系统及方法在审

专利信息
申请号: 202011600071.7 申请日: 2020-12-29
公开(公告)号: CN112816787A 公开(公告)日: 2021-05-18
发明(设计)人: 李伟 申请(专利权)人: 广东湾区智能终端工业设计研究院有限公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王云晓
地址: 523808 广东省东莞*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 点检 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种线损自动点检系统,其特征在于,包括:

射频测试设备,包括M条测试射频线路的生产夹具,所述M为大于1的自然数;

开关模块,所述开关模块包括参考端口、输出端口和M个测试端口,其中,所述M个测试端中的每个测试端口通过所述M条测试射频线路中的一条测试射频线路连接至所述射频测试设备形成M条测试射频通道,所述参考端口通过参考射频线路连接至所述射频测试设备形成参考射频通道,所述输出端口连接功率计的校准功率检测点,其中,所述M个测试端口中的任意一个测试端口与所述输出端口之间、所述M个测试端口中的任意一个测试端口与所述参考端口之间、所述输出端口与所述参考端口之间,能够导通或断开;

控制终端,用于针对M条所述测试射频线路中的目标测试射频线路,对所述开关模块进行选择性导通控制,以对所述目标测试射频线路进行线损测试。

2.根据权利要求1所述的线损自动点检系统,其特征在于,所述控制终端具体用于:

确定待安装于所述生产夹具上的射频前端设备;

根据预设的射频测试设备的端口与射频前端设备的天线端口的连接关系信息、以及射频前端设备的天线端口与工作频段的映射关系信息,配置应用于所述开关模块的导通配置文件;

按照所述导通配置文件依次控制所述开关模块实现多种导通状态,以完成所述目标测试射频线路的上行线损测试以及下行线损测试。

3.根据权利要求1或2所述的线损自动点检系统,其特征在于,所述控制终端,还用于生成所述开关模块的全频段损耗补偿文件,在完成所述上行线损测试以及下行线损测试后,向测试结果文件中合入所述开关模块的全频段损耗补偿文件。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的线损自动点检系统,其特征在于,所述控制终端与所述开关模块之间,通过通用射频控制GRFC端口或者移动产业处理器MIPI端口连接。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的线损自动点检系统,其特征在于,所述控制终端,在所述针对M条所述测试射频线路中的目标测试射频线路,对所述开关模块进行选择性导通控制时,具体用于:

确定与所述目标测试射频线路连接的第i测试端口,1≤i≤M;

控制所述开关模块的第i测试端口与所述输出端口导通,并控制所述射频测试设备与所述第i测试端口连接的相应端口输出第一设定功率,根据所述第一设定功率以及当前所述功率计获得的第一接收功率,计算所述目标测试射频线路的下行损耗;

控制所述开关模块的所述参考端口与所述输出端口导通,并控制所述射频测试设备与所述参考端口连接的相应端口输出第二设定功率,根据所述第二设定功率以及当前所述功率计获得的第二接收功率,计算所述参考射频线路的下行损耗;

控制所述开关模块的第i测试端口与所述参考端口导通,并控制所述射频测试设备的与所述参考端口连接的相应端口输出第三设定功率,所述射频测试设备与所述第i测试端口连接的相应端口接收功率,根据所述第三设定功率、所述参考射频线路的下行损耗以及所述射频测试设备的接收功率,计算所述目标测试射频线路的上行损耗。

6.一种线损自动点检方法,其特征在于,应用于所述权利要求1-4中任一项所述的线损自动点检系统,所述线损自动点检方法包括:

针对M条所述测试射频线路中的目标测试射频线路,对所述开关模块进行选择性导通控制;

对所述目标测试射频线路进行线损测试。

7.根据权利要求6所述的线损自动点检方法,其特征在于,所述对所述开关模块进行选择性导通控制的方法,包括:

确定待安装于所述生产夹具上的射频前端设备;

根据预设的射频测试设备的端口与射频前端设备的天线端口的连接关系信息、以及射频前端设备的天线端口与工作频段的映射关系信息,配置应用于所述开关模块的导通配置文件;

按照所述导通配置文件依次调整所述开关模块的导通状态,完成所述目标测试射频线路的上行线损测试以及下行线损测试。

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