[发明专利]一种电能表测试方法及装置

权利要求书

1.一种电能表测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：启动测试，并记录启动时的MCU有功总电量底度；

S2：实时获取待测电能表有功总电量底度和MCU有功总电量；

S3：判断当前的待测电能表有功总电量底度是否发生第一次跳变；

若是，则执行步骤S4；若否，则返回步骤S2；

S4：记录第一次跳变时的待测电能表有功总电量底度和MCU有功总电量底度，并计算出启动时刻的待测电能表有功总电量底度；

S5：实时获取第一次跳变后的待测电能表有功总电量底度和MCU有功总电量底度；

S6：判断当前的待测电能表有功总电量底度是否发生第二次跳变；

若是，则执行步骤S7；若否，则执行返回步骤S5；

S7：计算待测电能表的误差，完成电能表测试；

通过以下公式计算待测电能表的误差Err：

E_ΔM＝E_M1-E_M0

E_ΔS＝E_S1-E_S0

其中，E_ΔM为MCU的走字电量，E_M1为第二次跳变时的MCU有功总电量底度，E_M0为启动时的MCU有功总电量底度，E_ΔS为待测电能表的走字电量，E_S1为第二次跳变时的待测电能表有功总电量底度，E_S0为启动时的待测电能表有功总电量底度。

2.根据权利要求1所述的一种电能表测试方法，其特征在于，在步骤S1中，启动测试之前还包括在MCU与待测电能表间建立通信连接，具体为：

S1.1：由MCU组建通信命令帧并发送到待测电能表上；

S1.2：判断待测电能表是否在设定的时间内成功接收通信命令帧并作出响应；

若是，则MCU与待测电能表建立通信连接成功；

若否，则MCU更换通信波特率和奇偶校验位，并返回步骤S1.1。

3.根据权利要求1所述的一种电能表测试方法，其特征在于，在步骤S2中，MCU有功总电量通过以下步骤获得：

S2.1：以固定的频率采集待测电能表的电压和电流，得到电流离散信号I(t)和电压离散信号U(t)；

S2.2：通过对I(t)和U(t)积分处理，得到瞬时有功功率P，计算公式为：

其中，t为时间，T为总时间；

S2.3：通过对瞬时有功功率进行连续时间积分，得到相应时段的待测电能表有功总电量E，计算公式为：

其中，P(t)为t时刻的瞬时有功功率。

4.根据权利要求3所述的一种电能表测试方法，其特征在于，在步骤S2.1中，所述固定的频率的范围为40KHZ至60KHZ。

5.根据权利要求4所述的一种电能表测试方法，其特征在于，在步骤S2.1中，以50KHZ的频率采集待测电能表的电压和电流。

6.根据权利要求1所述的一种电能表测试方法，其特征在于，待测电能表有功总电量底度由MCU与待测电能表通信获得。

7.根据权利要求1所述的一种电能表测试方法，其特征在于，在步骤S4中，通过以下公式计算出启动时的待测电能表有功总电量底度E_S0：

E_S0＝E_S-(E_M-E_M0)

其中，E_S为第一次跳变时的待测电能表有功总电量底度，E_M为第一次跳变时的MCU有功总电量底度，E_M0为启动时的MCU有功总电量底度。