[发明专利]一种电能表测试方法及装置

说明书

本发明提供一种电能表测试方法，包括以下步骤：S1：启动测试，并记录启动时的MCU有功总电量底度；S2：实时获取待测电能表有功总电量底度和MCU有功总电量；S3：判断当前的待测电能表有功总电量底度是否发生第一次跳变；若是，则执行步骤S4；若否，则返回步骤S2；S4：计算出启动时刻的待测电能表有功总电量底度；S5：实时获取第一次跳变后的待测电能表有功总电量底度和MCU有功总电量底度；S6：判断当前的待测电能表有功总电量底度是否发生第二次跳变；若是，则执行步骤S7；若否，则执行返回步骤S5；S7：计算待测电能表的误差。本发明还提供一种电能表测试装置。本发明提供一种电能表测试方法及装置，解决了目前电能表测试的过程耗时长的问题。

技术领域

本发明涉及电表测试技术领域，更具体的，涉及一种电能表测试方法及装置。

背景技术

电能表误差的问题长期以来是用电用户和供电部门之间产生纠纷的主要原因。电能表测试是检测电能表误差的其中一种方法。但目前电能表测试需要先将标准源的电压、电流输入到电能表上，然后获取电能表走字电量与标准源的数据进行对比、判断后得出电能表的误差。而在现场环境下无法提供标准源进行电能表测试。因此，当需要进行电能表测试时，供电部门需要先到现场拆卸电能表，然后将电能表送到实验室后才能进行电能表测试，导致电能表测试的过程耗时长、效率低。

现有技术中，如2014年01月15日公开的中国专利，一种电能表测试系统及方法，公开号为CN101770007A，通过在走字源内设置一个与待测电能表规格参数一致的标准表，使得在进行老化测试的同时能够进行走字测试，大大的节省了时间，但只适用于刚生产出来的电能表，不适用于电能表应用现场。

发明内容

本发明为克服目前电能表测试的过程耗时长的技术缺陷，提供一种电能表测试方法及装置。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案如下：

一种电能表测试方法，包括以下步骤：

S1：启动测试，并记录启动时的MCU有功总电量底度；

S2：实时获取待测电能表有功总电量底度和MCU有功总电量；

S3：判断当前的待测电能表有功总电量底度是否发生第一次跳变；

若是，则执行步骤S4；若否，则返回步骤S2；

S4：记录第一次跳变时的待测电能表有功总电量底度和MCU有功总电量底度，并计算出启动时刻的待测电能表有功总电量底度；

S5：实时获取第一次跳变后的待测电能表有功总电量底度和MCU有功总电量底度；

S6：判断当前的待测电能表有功总电量底度是否发生第二次跳变；

若是，则执行步骤S7；若否，则执行返回步骤S5；

S7：计算待测电能表的误差，完成电能表测试。

上述方案中，通过获取两次跳变之间的待测电能表有功总电量底度和MCU有功总电量底度，从而计算得到待测电能表的误差，完成电能表测试，不需要额外的标准电源供电，也不需要供电部门先到现场拆卸待测电能表，再将待测电能表送到实验室进行走字测试，极大程度地简化测试流程，缩短了测试耗时。

优选的，在步骤S1中，启动测试之前还包括在MCU与待测电能表间建立通信连接，具体为：

S1.1：由MCU组建通信命令帧并发送到待测电能表上；

S1.2：判断待测电能表是否在设定的时间内成功接收通信命令帧并作出响应；

若是，则MCU与待测电能表建立通信连接成功；

若否，则MCU更换通信波特率和奇偶校验位，并返回步骤S1.1。