[发明专利]基于配码分析的SRAM型可编程逻辑器件敏感度分析方法有效

专利信息
申请号: 202011603921.9 申请日: 2020-12-30
公开(公告)号: CN112464600B 公开(公告)日: 2022-06-24
发明(设计)人: 杨海钢;贾一平;舒毅;唐润龙;李文军 申请(专利权)人: 中国科学院空天信息创新研究院
主分类号: G06F30/34 分类号: G06F30/34;G06F30/331;G06F30/327
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 鄢功军
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基于 分析 sram 可编程 逻辑 器件 敏感度 方法
【权利要求书】:

1.一种基于配码分析的SRAM型可编程逻辑器件敏感度分析方法,其特征在于,包括构建敏感度分布表和分析目标设计电路敏感度分布情况;其中,所述构建敏感度分布表包括:

根据目标SRAM型FPGA的逻辑资源描述文件,遍历关键资源类型构建敏感度;

根据当前遍历时所选定的目标资源,自动生成模板电路;

根据目标资源Tile类型与模板电路生成参考设计,布局/布线/生成配码;

根据目标资源,生成空白模板电路;

根据目标资源Tile类型与空白模板电路生成对应的参考设计,布局/布线/生成配码;

比对目标资源的模板电路和空白模板电路所生成的码流,差分提取敏感度信息;

记录并收集当前的目标资源类型的敏感度信息,添加敏感度分布表;

在添加敏感度分布表之后,需要判断是否有其他待分析目标资源,若有其他待分析目标则返回到方法的起始步骤进行构建敏感度,若没有其他待分析目标则继续执行方法步骤。

2.根据权利要求1所述的SRAM型可编程逻辑器件敏感度分析方法,其特征在于,所述分析目标设计电路敏感度分布情况包括:

根据获取的敏感度分布表,对目标设计电路进行预处理,生成重点区域分布设计约束;

对待测试电路进行综合布局布线,转化为XDL文件,以便于敏感点的识别,并生成配置码;

根据生成的XDL文件与配置码信息,查找敏感度分布表,获取各个模块的敏感度情况,生成敏感激励源并产生首次敏感度评估值;

仿真验证获取到的全部设计敏感激励源并收集结果,根据仿真结果确认最终敏感度分析结果。

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