[发明专利]一种flash芯片的测试方法及相关装置在审

专利信息
申请号: 202011609761.9 申请日: 2020-12-30
公开(公告)号: CN112799889A 公开(公告)日: 2021-05-14
发明(设计)人: 单家明 申请(专利权)人: 杭州涂鸦信息技术有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F11/26
代理公司: 广东君龙律师事务所 44470 代理人: 丁建春
地址: 310000 浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 flash 芯片 测试 方法 相关 装置
【权利要求书】:

1.一种flash芯片的测试方法,其特征在于,所述方法包括:

利用引导源码加载测试程序;

利用所述引导源码,将与待测flash芯片匹配的测试资源的存储地址传输至所述测试程序中;

执行所述测试程序,以根据所述存储地址调用所述测试资源,并基于所述测试资源对所述flash芯片进行测试。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用引导源码加载测试程序之前,所述方法还包括:

获取至少一个所述测试资源;

利用所述引导源码,验证每个所述测试资源的有效性,并将有效的所述测试资源存储至所述引导源码。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述利用所述引导源码,验证每个所述测试资源的有效性,进一步包括:

利用所述引导源码,对每个所述测试资源进行循环码校验,以分别判断每个所述测试资源的有效性。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述利用所述引导源码,验证每个所述测试资源的有效性之后,所述方法还包括:

在验证所述测试资源有效的情况下,将有效的所述测试资源的存储地址对应增加至环境变量。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用引导源码加载测试程序,进一步包括:

利用所述引导源码以bootm standalone的方式加载所述测试程序。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述执行所述测试程序之前,所述方法还包括:

利用所述引导源码,验证所述测试程序的完整性;

若验证得到所述测试程序完整,则执行执行所述测试程序,以根据所述存储地址调用所述测试资源,并基于所述测试资源对所述flash芯片进行测试;反之,则重新执行所述利用引导源码加载测试程序。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,在所述利用所述引导源码,验证所述测试程序的完整性之前,所述方法还包括:

将所述测试程序编译成可执行文件,并为所述可执行文件添加引导源码专用的头部信息,以标记所述测试程序为需要执行的所述测试程序;

所述利用所述引导源码验证所述测试程序的完整性,包括:

利用所述引导源码验证所述可执行文件的完整性。

8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述执行所述测试程序之前,所述方法还包括:

利用所述测试程序,检验所述测试资源的有效性。

9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述执行所述测试程序,以根据所述存储地址调用所述测试资源,并基于所述测试资源对所述待测flash芯片执行测试,进一步包括:

利用所述测试程序,根据所述存储地址访问所述引导源码,获取所述测试资源;其中,所述测试资源包括:测试类型、测试次数、测试地址和测试范围中的至少一种测试参数;

利用所述测试程序,获取测试数据;

根据所述测试数据和所述测试资源,执行所述测试程序,以对所述待测flash芯片执行测试获取测试结果。

10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述根据所述测试数据和所述测试资源,执行所述测试程序,以对所述待测flash芯片执行测试获取测试结果,进一步包括:

根据所述测试地址和所述测试范围,在所述flash芯片中确定测试区域;

对所述测试区域分别执行所述测试次数的设定测试操作,统计各个设定操作的成功次数和/或失败次数;

将所述测试参数与设定操作的成功次数和/或失败次数,作为所述测试结果。

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