[发明专利]一种flash芯片的测试方法及相关装置

说明书

本申请公开了一种flash芯片的测试方法及相关装置，该方法包括：利用引导源码加载测试程序；利用所述引导源码，将与待测flash芯片匹配的测试资源的存储地址传输至所述测试程序中；执行所述测试程序，以根据所述存储地址调用所述测试资源，并基于所述测试资源对所述flash芯片进行测试。通过本申请所提供的技术方案，可以实现在不占用flash芯片及基于flash芯片所发布产品的资源，实现对flash芯片进行稳定可靠性测试。

技术领域

本申请涉及芯片测试技术领域，特别是涉及一种flash芯片的测试方法及相关装置。

背景技术

flash芯片作为常用的非易失的存储类芯片，具有随机存储、可靠性强、读取速度快、可执行代码、成本低等特点，广泛的使用在中小型嵌入系统中。然而在实际的生产应用中，对于flash芯片的可靠性测试一直都是被忽略的环节，现有的用于测试的flash芯片的测试方法，均存在算法较为复杂，需要的测试时间较长，故现有对于flash芯片的测试大部分都只是停留在理论研究层面，很少用于工程实践中作为评判flash稳定性的依据。故需要一种不占用flash芯片资源或基于flash芯片发布的产品的资源的，且执行效率较高的方案对flash芯片进行测试，进而实现更好地保证flash芯片的稳定可靠性。

发明内容

本申请主要解决的技术问题是提供一种flash芯片的测试方法及相关装置，可以实现在不占用flash芯片及基于flash芯片所发布产品的资源，实现对flash芯片进行稳定可靠的测试。

为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种flash芯片的测试方法，所述方法包括：

利用引导源码加载测试程序；

利用所述引导源码，将与待测flash芯片匹配的测试资源的存储地址传输至所述测试程序中；

执行所述测试程序，以根据所述存储地址调用所述测试资源，并基于所述测试资源对所述flash芯片进行测试。

为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是：提供一种测试设备，所述测试设备包括处理器以及与所述处理器耦接的存储器和通信接口；其中，

所述通信接口用于与其他电子设备通信；

所述存储器用于存储计算机程序；

所述处理器用于运行所述计算机程序以执行如上所述的flash芯片的测试方法。

为解决上述技术问题，本申请采用的又一个技术方案是：提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有能够被处理器运行的计算机程序，所述计算机程序用于实现如上所述的flash芯片的测试方法。

本申请的有益效果是：区别于现有技术的情况，本申请所提供的技术方案，通过将测试资源预先存储于引导源码中，然后在对flash芯片进行测试时，首先利用引导源码加载测试程序，并将测试资源存储于引导源码中的存储地址传输至测试程序中，再执行测试程序，进而使得测试程序根据所接收到的测试资源的存储地址调用对应的测试资源，之后基于测试资源对flash芯片进行测试。即本申请所提供的技术方案通过将测试资源预先存储于引导源码中，实现在对flash芯片进行测试时无需占用flash芯片的资源，也无需占用基于flash芯片发布的产品的资源，即可完成对flash芯片进行稳定可靠的测试。

附图说明

图1为本申请一种flash芯片的测试方法一实施例中的流程示意图；

图2为本申请一种flash芯片的测试方法一实施例中的流程示意图；

图3为本申请一种flash芯片的测试方法又一实施例中的流程示意图；

图4为本申请一种flash芯片的测试方法又一实施例中的流程示意图；