[发明专利]一种面向面特征的自适应形状测点规划方法及系统有效

专利信息
申请号: 202011611051.X 申请日: 2020-12-30
公开(公告)号: CN112784368B 公开(公告)日: 2022-07-05
发明(设计)人: 段桂江;张铭雨;刘睿 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G06F30/17 分类号: G06F30/17
代理公司: 北京高沃律师事务所 11569 代理人: 王爱涛
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 面向 特征 自适应 形状 规划 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种面向面特征的自适应形状测点规划方法,其特征在于,包括:

获取零件模型的三维空间曲面;

将所述三维空间曲面映射到二维空间坐标系中,得到所述零件模型的二维UV平面;

根据所述二维UV平面获取所述零件模型的边界坐标;

根据所述边界坐标,采用定步长布点的方法,确定U向和V向的初始的布点个数;

将U向和V向的初始的布点个数均扩大n倍,得到预布置的测点;

利用所述初始的布点个数以及所述边界坐标对所述预布置的测点进行筛选,得到实际测点的个数和方向;

根据所述实际测点的个数和方向进行所述零件模型的测点规划;

所述利用所述初始的布点个数以及所述边界坐标对所述预布置的测点进行筛选,得到实际测点的个数和方向,具体包括:

利用公式确定U向的实际测点个数Usize;

根据公式确定初始的布点个数中的实际测点的行数i;

利用公式确定V向的实际测点个数Vsize;

利用公式确定初始的布点个数中的实际测点的列数j;

其中,rSize为预布置的U向的测点中的个数,dU为U向的初始的布点个数,dU×n为扩大n倍后的U向的初始的布点个数,k为测点,cSize 为预布置的V向的测点中的个数,dV为V向的初始的布点个数,dV×n为扩大n倍后的V向的初始的布点个数。

2.根据权利要求1所述的一种面向面特征的自适应形状测点规划方法,其特征在于,所述将所述三维空间曲面映射到二维空间坐标系中,得到所述零件模型的二维UV平面,具体包括:

利用公式得到二维UV平面;其中(x,y,z)为三维空间曲面的三维点坐标,(u,v)为二维空间坐标系中点的坐标,fx()、fy()以及fz()均为映射函数。

3.根据权利要求1所述的一种面向面特征的自适应形状测点规划方法,其特征在于,所述根据所述二维UV平面获取所述零件模型的边界坐标,之后还包括:

根据所述二维UV平面和所述边界坐标分别向U向缩进第一设定距离以及向V向缩进第二设定距离,得到更新后的边界。

4.一种面向面特征的自适应形状测点规划系统,其特征在于,包括:

三维空间曲面获取模块,用于获取零件模型的三维空间曲面;

二维UV平面确定模块,用于将所述三维空间曲面映射到二维空间坐标系中,得到所述零件模型的二维UV平面;

边界坐标获取模块,用于根据所述二维UV平面获取所述零件模型的边界坐标;

初始的布点个数确定模块,用于根据所述边界坐标,采用定步长布点的方法,确定U向和V向的初始的布点个数;

预布置的测点确定模块,用于将U向和V向的初始的布点个数均扩大n倍,得到预布置的测点;

实际测点的个数和方向确定模块,用于利用所述初始的布点个数以及所述边界坐标对所述预布置的测点进行筛选,得到实际测点的个数和方向;

测点规划模块,用于根据所述实际测点的个数和方向进行所述零件模型的测点规划;

所述实际测点的个数和方向确定模块具体包括:

U向的实际测点个数确定单元,用于利用公式确定U向的实际测点个数Usize;

实际测点的行数确定单元,用于根据公式确定初始的布点个数中的实际测点的行数i;

V向的实际测点个数确定单元,用于利用公式确定V向的实际测点个数Vsize;

实际测点的列数确定单元,用于利用公式确定初始的布点个数中的实际测点的列数j;

其中,rSize为预布置的U向的测点中的个数,dU为U向的初始的布点个数,dU×n为扩大n倍后的U向的初始的布点个数,k为测点,cSize为预布置的V向的测点中的个数,dV为V向的初始的布点个数,dV×n为扩大n倍后的V向的初始的布点个数。

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