[发明专利]一种面向面特征的自适应形状测点规划方法及系统

说明书

本发明涉及一种面向面特征的自适应形状测点规划方法及系统。该方法包括：获取零件模型的的三维空间曲面；将所述三维空间曲面映射到二维空间坐标系中，得到所述零件模型的二维UV平面；根据所述二维UV平面获取所述零件模型的边界坐标；根据所述边界坐标，采用定步长布点的方法，确定U向和V向的初始的布点个数；将U向和V向的初始的布点个数均扩大n倍，得到预布置的测点；利用所述初始的布点个数以及所述边界坐标对所述预布置的测点进行筛选，得到实际测点的个数和方向；根据所述实际测点的个数和方向进行所述零件模型的测点规划。本发明提升了复杂零件制造过程的检测效率。

技术领域

本发明涉及测点规划领域，特别是涉及一种面向面特征的自适应形状测点规划方法及系统，

背景技术

面特征是零件测量任务中最常见的几何特征，包括平面特征和自由曲面特征。

对于面特征的测量主要用于检验加工过程的尺寸、平面度以及面轮廓度等。

而对于复杂零件而言，其零件模型中面特征通常经过了多次复杂的布尔运算得到，是裁剪曲面或者碎片曲面特征，且面特征上多存在多种形状的孔结构。因此，在进行面特征的测点规划时，现有的布点算法难以同时满足面特征的测点数量与位置要求并自适应避让面特征上面的孔。

发明内容

本发明的目的是提供一种面向面特征的自适应形状测点规划方法及系统，提升了复杂零件制造过程的检测效率。

为实现上述目的，本发明提供了如下方案：

一种面向面特征的自适应形状测点规划方法，包括：

获取零件模型的的三维空间曲面；

将所述三维空间曲面映射到二维空间坐标系中，得到所述零件模型的二维UV平面；

根据所述二维UV平面获取所述零件模型的边界坐标；

根据所述边界坐标，采用定步长布点的方法，确定U向和V向的初始的布点个数；

将U向和V向的初始的布点个数均扩大n倍，得到预布置的测点；

利用所述初始的布点个数以及所述边界坐标对所述预布置的测点进行筛选，得到实际测点的个数和方向；

根据所述实际测点的个数和方向进行所述零件模型的测点规划。

可选的，所述将所述三维空间曲面映射到二维空间坐标系中，得到所述零件模型的二维UV平面，具体包括：

利用公式得到二维UV平面；其中(x，y，z)为三维空间曲面的三维点坐标，(u，y)为二维空间坐标系中点的坐标，f_x()、f_y()以及f_z()均为映射函数。

可选的，所述根据所述二维UV平面获取所述零件模型的边界坐标，之后还包括：

根据所述二维UV平面和所述边界坐标分别向U向缩进第一设定距离以及向V向缩进第二设定距离，得到更新后的边界。

可选的，所述利用所述初始的布点个数以及所述边界坐标对所述预布置的测点进行筛选，得到实际测点的个数和方向，具体包括：

利用公式确定U向的实际测点个数Usize；

根据公式确定初始的布点个数中的实际测点的行数i；

利用公式确定V向的实际测点个数Vsize；

利用公式确定初始的布点个数中的实际测点的列数j；