[发明专利]一种在机测量的无碰撞全局路径规划方法及系统有效

专利信息
申请号: 202011611700.6 申请日: 2020-12-30
公开(公告)号: CN112817308B 公开(公告)日: 2022-10-11
发明(设计)人: 段桂江;张铭雨;刘睿 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G05D1/02 分类号: G05D1/02
代理公司: 北京高沃律师事务所 11569 代理人: 王爱涛
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 碰撞 全局 路径 规划 方法 系统
【说明书】:

发明涉及一种在机测量的无碰撞全局路径规划方法及系统。该方法包括:获取零件模型的特征;根据所述零件模型的特征确定所述零件模型的安全点以及所述零件模型的包围盒;获取测头移动产生的扫略体;根据所述扫略体确定所述零件模型的安全点中干涉的安全点;根据所述零件模型的包围盒以及干涉的安全点,采用扫略体的方法,确定所述零件模型的避障点;根据所述零件模型的安全点中的未干涉的安全点以及所述避障点规划所述零件模型的全局路径。本发明自动实现基于三维模型的全局路径的无碰撞规划,极大提高在机测量路径规划的效率。

技术领域

本发明涉及复杂零件路径规划领域,特别是涉及一种在机测量的无碰撞全局路径规划方法及系统。

背景技术

复杂零件路径规划具有多路径、多测量工作平面的特点,因此在路径规划过程中,规划的路径容易与零件模型产生干涉,目前的路径规划中针对干涉情况的研究主要面向特殊零件或者特殊环境,对于复杂三维环境效果一般。因此目前还是更多采用手动增加或者更改点位的方式实现避障,导致路径规划过程繁琐且耗费时间。

发明内容

本发明的目的是提供一种在机测量的无碰撞全局路径规划方法及系统,自动实现基于三维模型的全局路径的无碰撞规划,极大提高在机测量路径规划的效率。

为实现上述目的,本发明提供了如下方案:

一种在机测量的无碰撞全局路径规划方法,包括:

获取零件模型的特征;所述零件模型的特征包括零件模型的面特征和零件模型的圆柱特征;

根据所述零件模型的特征确定所述零件模型的安全点以及所述零件模型的包围盒;

获取测头移动产生的扫略体;

根据所述扫略体确定所述零件模型的安全点中干涉的安全点;

根据所述零件模型的包围盒以及干涉的安全点,采用扫略体的方法,确定所述零件模型的避障点;

根据所述零件模型的安全点中的未干涉的安全点以及所述避障点规划所述零件模型的全局路径。

可选的,所述根据所述零件模型的特征确定所述零件模型的安全点以及所述零件模型的包围盒,具体包括:

获取所述零件模型的面特征的测点和定位点;

根据所述零件模型的面特征的测点和定位点确定面特征的安全点;

获取所述零件模型的圆柱特征的定位点;

根据所述零件模型的圆柱特征的定位点确定圆柱特征的安全点。

可选的,所述根据所述零件模型的包围盒以及干涉的安全点,采用扫略体的方法,确定所述零件模型的避障点,之前还包括:

建立三维坐标系,确定每个所述安全点的位置坐标以及所述包围盒的边界位置坐标。

可选的,所述根据所述零件模型的包围盒以及干涉的安全点,采用扫略体的方法,确定所述零件模型的避障点,具体包括:

根据所述三维坐标系对干涉的安全点进行分类;

根据分类后的干涉的安全点以及所述零件模型的包围盒,采用扫略体的方法,确定所述零件模型的避障点。

一种在机测量的无碰撞全局路径规划系统,包括:

零件模型的特征获取模块,用于获取零件模型的特征;所述零件模型的特征包括零件模型的面特征和零件模型的圆柱特征;

安全点和包围盒确定模块,用于根据所述零件模型的特征确定所述零件模型的安全点以及所述零件模型的包围盒;

扫略体获取模块,用于获取测头移动产生的扫略体;

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