[发明专利]测距方法及测距装置

权利要求书

1.一种测距方法，其特征在于，应用于测距装置，所述测距装置包括发光元件与至少一个感光单元，每个所述感光单元包括N个感光元件，N为大于1的整数；所述测距方法，包括：

控制所述发光元件发射L次入射光信号；L为正整数；

针对每个所述感光单元，所述感光单元中的所有所述感光元件各自感应对应的反射光信号，得到M个第一电信号；所述反射光信号为所述入射光信号遇到被摄物体后反射回来的光信号；所述第一电信号包括所述反射光信号的信息；M为大于或等于N的整数；L小于M；

采用M-1个相位分别对所述第二电信号进行相位调制，得到M-1个调制信号；所述M-1个相位不同；所述第二电信号包括所述入射光信号的信息；

根据所述第二电信号、M-1个调制信号以及M个第一电信号获取相位差；

根据所述相位差获取所述被摄物体与所述感光单元之间的距离。

2.根据权利要求1所述的测距方法，其特征在于，当M等于N时，L为1。

3.根据权利要求2所述的测距方法，其特征在于，N为4，M为4。

4.根据权利要求1所述的测距方法，其特征在于，当M大于N且等于N的L倍时，针对每次所述发光元件发射所述入射光信号，所述感光单元中的所有所述感光元件各自感应对应的反射光信号，得到N个第一电信号；L为大于1的整数；

当所述发光元件发射L次所述入射光信号后，所述感光单元中的所有所述感光元件各自感应L次对应的反射光信号，共得到M个第一电信号。

5.根据权利要求4所述的测距方法，其特征在于，N为2，M为4，L为2。

6.根据权利要求1所述的测距方法，其特征在于，M为4，所述M-1个相位分别为90°、180°与270°；所述感光元件为光电二极管；所述M-1个调制信号包括第一调制信号、第二调制信号与第三调制信号；所述第一调制信号为采用90°相位对所述第二电信号进行相位调制后的信号，所述第二调制信号为采用180°相位对所述第二电信号进行相位调制后的信号，所述第三调制信号为采用270°相位对所述第二电信号进行相位调制后的信号；

所述根据所述第二电信号、M-1个调制信号以及M个第一电信号获取相位差，包括：

将M个第一电信号分别与所述第二电信号、所述第一调制信号、所述第二调制信号与所述第三调制信号相与并积累电荷；

读取积累的电荷量，得到第一电荷量、第二电荷量、第三电荷量以及第四电荷量；所述第一电荷量为对应的所述第一电信号与所述第二电信号相与后积累的电荷量，所述第二电荷量为对应的所述第一电信号与所述第一调制信号相与后积累的电荷量，所述第三电荷量为对应的所述第一电信号与所述第二调制信号相与后积累的电荷量，所述第四电荷量为对应的所述第一电信号与所述第三调制信号相与后积累的电荷量；

根据第一电荷量、第二电荷量、第三电荷量、第四电荷量以及如下计算式计算所述相位差：

其中，为所述相位差，Q1为第一电荷量、Q2为第二电荷量、Q3为第三电荷量，Q4为第四电荷量。

7.一种测距装置，其特征在于，包括：发光元件、控制单元、处理单元以及至少一个感光单元，每个所述感光单元包括N个感光元件，N为大于1的整数；

所述控制单元与所述发光元件电连接，所述控制单元用于控制所述发光元件发射L次入射光信号；L为正整数；

针对每个所述感光单元，所述感光单元中的所有所述感光元件各自感应对应的反射光信号，得到M个第一电信号；所述反射光信号为所述入射光信号遇到被摄物体后反射回来的光信号；所述第一电信号包括所述反射光信号的信息；M为大于或等于N的整数；L小于M；

所述处理单元与所述感光单元电连接，所述处理单元用于采用M-1个相位分别对所述第二电信号进行相位调制，得到M-1个调制信号，并根据所述第二电信号、M-1个调制信号以及M个第一电信号获取相位差，以及根据所述相位差获取所述被摄物体与所述感光单元之间的距离；所述M-1个相位不同；所述第二电信号包括所述入射光信号的信息。