[发明专利]GIS导体检测温度的多级校准方法、装置、介质及终端设备有效

专利信息
申请号: 202011622170.5 申请日: 2020-12-30
公开(公告)号: CN112611462B 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 李盈;王增彬;庞小峰;孙帅;赵晓凤;姚聪伟;宋坤宇;杨贤;吕鸿;吴吉 申请(专利权)人: 广东电网有限责任公司电力科学研究院
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 贾小慧
地址: 510080 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: gis 导体 检测 温度 多级 校准 方法 装置 介质 终端设备
【说明书】:

发明涉及一种GIS导体检测温度的多级校准方法、装置、介质及终端设备,首先对GIS红外测温装置进行一级校准,其次对一级校准后的第一GIS红外测温装置进行二级校准,在GIS设备加装红外玻璃后检测GIS设备壳体与导体温度对第二GIS红外测温装置进行三级校准,最后是给GIS设备壳体内部充SF6气体后检测GIS设备壳体与导体温度对第三GIS红外测温装置进行四级校准,从而实现对GIS红外测温装置的四级校准;采用层层递进的四级校准方式,上一层的输出作为下一层的输入,四级校准模式后的GIS红外测温装置能够综合考虑诸多影响温度变化的变量,使得通过四级校准模式后的GIS红外测温装置检测GIS导体温度更为准确、可靠。

技术领域

本发明涉及GIS温度技术领域,尤其涉及一种GIS导体检测温度的多级校准方法、装置、介质及终端设备。

背景技术

六氟化硫气体绝缘金属全封闭开关配电设备(GAS—INSTULATED SWITCHGEAR简称GIS)的内部导体触头接触故障会导致局部发热严重,进而引起GIS设备内部和外壳温度分布发生变化。当GIS设备的GIS过热会击穿导致变电设备发生故障。GIS中的母线导体、隔离开关和断路器由于触头接触不良造成的过热故障,已经严重影响到电力系统的安全稳定运行。

目前变电站对GIS进行温度检测的常规手段多为红外测温巡视,一方面巡视不具备及时性,另一方面只能通过外壳温升的分布差异作为过热判据,灵敏度差、准确率低。现有对检测GIS设备的温度没有校准,无法知晓检测的温度是否准确,不能保证得到的GIS设备的检测温度是GIS设备实际的温度,从而导致监控GIS设备出现失误,损坏GIS设备以及变电设备。

发明内容

本发明实施例提供了一种GIS导体检测温度的多级校准方法、装置、介质及终端设备,用于解决现有检测的GIS导体温度知识对GIS设备壳体表面检测的温度,让检测的温度不能真实反映GIS导体内部的实际温度的技术问题。

为了实现上述目的,本发明实施例提供如下技术方案:

一种GIS导体检测温度的多级校准方法,应用于GIS红外测温装置上,包括以下步骤:

S10.对所述GIS红外测温装置的测温进行一级校准,得到校准后的第一GIS红外测温装置;

S20.获取检测的GIS设备壳体的第一实测温度和GIS设备导体内部的第一标称温度,根据所述第一实测温度和所述第一标称温度对所述第一GIS红外测温装置进行二级校准,得到第二GIS红外测温装置;

S30.获取检测的GIS设备壳体的第二实测温度和GIS设备导体内部的第二标称温度,根据所述第二实测温度和所述第二标称温度对所述第二GIS红外测温装置进行三级校准,得到第三GIS红外测温装置;

S40.获取检测的GIS设备壳体的第三实测温度和GIS设备导体内部的第三标称温度,根据所述第三实测温度和所述第三标称温度对所述第三GIS红外测温装置进行四级校准,得到第四GIS红外测温装置,所述第四GIS红外测温装置检测GIS设备壳体的温度作为GIS设备导体的实测温度。

优选地,在步骤S10中,对所述GIS红外测温装置的测温进行一级校准,得到校准后的第一GIS红外测温装置的步骤包括:

对所述GIS红外测温装置中单片机的温度采集端输入温度电压值,采集所述GIS红外测温装置中单片机输出的采集电压值;

若所述温度电压值与所述采集电压值比较不一致,采用零漂校准公式对所述GIS红外测温装置中单片机输出的电压值进行校准;

其中,所述零漂校准公式为:Ui=0.998*U0-0.385,式中,Ui为校准后的第一GIS红外测温装置中单片机输出的电压值,U0为GIS红外测温装置中单片机输出的采集电压值。

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