[发明专利]手势运动轨迹处理方法、装置、设备及介质

权利要求书

1.一种手势运动轨迹处理方法，其特征在于，所述方法包括：

针对手势测量系统测量得到的原始手势运动轨迹中的第k时刻的手势，根据第k-1时刻的手势对应的N个第一粒子，确定所述第k时刻的手势对应的N个第二粒子，其中，k为正整数，第0时刻的手势对应的N个粒子为以第0时刻的手势状态为圆心，以手势运动的加速度的方差为半径的范围内的N个粒子；

根据所述N个第二粒子，对所述第k时刻的手势进行第一次粒子滤波，得到所述第k时刻的手势的第一状态估计值；

根据所述第一状态估计值，对所述第k时刻的手势进行第二次粒子滤波，得到所述第k时刻的手势的目标状态估计值；

根据所述目标状态估计值，确定目标手势运动轨迹；

所述根据第k-1时刻的手势对应的N个第一粒子，确定所述第k时刻的手势对应的N个第二粒子，包括：

根据所述N个第一粒子和所述手势运动对应的状态方程，确定所述N个第二粒子，其中，所述状态方程为将所述手势运动简化为匀速直线运动，将所述手势运动的加速度作为所述手势运动过程的噪声得到的方程。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述N个第二粒子，对所述第k时刻的手势进行第一次粒子滤波，得到所述第k时刻的手势的第一状态估计值，包括：

根据所述N个第二粒子以及所述第k时刻的手势对应的测量值，确定每个所述第二粒子的第一权重；

根据所述第一权重，确定所述第k时刻的手势对应的所述N个第二粒子中的有效粒子数；

在所述有效粒子数小于预设粒子数的情况下，对粒子进行重采样，得到N个第三粒子，将所述N个第三粒子作为N个目标粒子；在所述有效粒子数不小于预设粒子数的情况下，将所述N个第二粒子作为N个目标粒子；

根据所述N个目标粒子和每个所述目标粒子对应的第二权重，确定所述第一状态估计值。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述N个第二粒子以及所述第k时刻的手势对应的测量值，确定每个所述第二粒子的第一权重，包括：

针对每个所述第二粒子，根据所述第二粒子、所述第k时刻的手势对应的测量值和所述手势测量系统对应的测量噪声的方差，确定所述第二粒子的第一权重。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一权重，确定所述第k时刻的手势对应的所述N个第二粒子中的有效粒子数，包括：

计算所述N个第二粒子的第一权重的平方和；

将N与所述平方和的商，作为所述有效粒子数。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述N个目标粒子和每个所述目标粒子对应的第二权重，确定所述第一状态估计值，包括：

根据每个目标粒子对应的第二权重，对所述N个目标粒子进行加权求和，得到所述第一状态估计值。

6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对粒子进行重采样，包括：

采用以下所列项中的任意一种重采样方式对粒子进行重采样：

多项式重采样、分层式重采样、系统重采样。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一状态估计值，对所述第k时刻的手势进行第二次粒子滤波，得到所述第k时刻的手势的目标状态估计值，包括：

根据所述第一状态估计值，确定所述第k时刻的手势对应的N个目标粒子中每个所述目标粒子的第三权重；

根据所述N个目标粒子和每个目标粒子对应的第三权重，确定所述目标状态估计值。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一状态估计值，确定所述第k时刻的手势对应的N个目标粒子中每个所述目标粒子的第三权重，包括：

针对每个所述目标粒子，根据所述目标粒子、所述第一状态估计值和所述手势测量系统对应的测量噪声的方差，确定所述目标粒子的第三权重。