[发明专利]一种键盘键帽自动建模定位方法

权利要求书

1.一种键盘键帽自动建模定位方法，其特征在于，包括以下步骤：

建立键盘键帽的标准模板库，所述标准模板库中的每一个标准模板存储有该标准模板的按键轮廓图像信息以及按键字符的图像信息；

通过相机对待检测键盘进行拍摄，获取待检测键盘的图像信息；

通过对待检测键盘的图像信息预设建模参数，根据键盘键帽的标准模板库进行键帽特征建模，获得待检测键盘的键帽建模图像参数；

通过将待检测键盘的键帽建模图像参数与标准模板的图像信息参数进行比对，寻找差异特征，实现对键盘质量的检测。

2.根据权利要求1所述的键盘键帽自动建模定位方法，其特征在于，所述通过相机对待检测键盘进行拍摄，获取待检测键盘的图像信息的步骤中，包括：

所述相机为双相机，通过全局定位特征实现拼合完整图像，获取待检测键盘的图像信息。

3.根据权利要求2所述的键盘键帽自动建模定位方法，其特征在于，通过所述双相机获取待检测键盘的图像信息的步骤之后，在建模过程中采用对双相机拍摄的两幅图像分别进行键帽特征建模，通过全局定位特征进行图像参数的拼接，从而获取完整的待检测键盘的键帽建模图像参数。

4.根据权利要求1所述的键盘键帽自动建模定位方法，其特征在于，在所述通过对待检测键盘的图像信息预设建模参数，根据键盘键帽的标准模板库进行键帽特征建模，获得待检测键盘的键帽建模图像参数的步骤中，所述键帽特征建模基于键帽区域特征参数、字符区域特征参数以及找线区域特征参数三种特征参数。

5.根据权利要求2所述的键盘键帽自动建模定位方法，其特征在于，在所述通过对待检测键盘的图像信息预设建模参数，根据键盘键帽的标准模板库进行键帽特征建模，获得待检测键盘的键帽建模图像参数的步骤中，包括：

将所述待检测键盘的图像信息通过全局二值化处理为二值图像信息；

对所述二值图像信息进行区域分析，获取建模特征参数；

根据所述建模特征参数进行定位训练，获取完整的待检测键盘的键帽建模图像参数。

6.根据权利要求5所述的键盘键帽自动建模定位方法，其特征在于，所述区域分析为Blob分析，通过所述Blob分析获取键帽区域特征参数和字符区域特征参数，并根据键帽区域特征参数设置找线工具，找到准确的线，从而获取找线区域特征参数。

7.根据权利要求5所述的键盘键帽自动建模定位方法，其特征在于，所述建模特征参数包括键帽区域特征参数、字符区域特征参数以及找线区域特征参数。

8.根据权利要求5所述的键盘键帽自动建模定位方法，其特征在于，在所述通过将待检测键盘的键帽建模图像参数与标准模板的图像信息参数进行比对，寻找差异特征，实现对键盘质量的检测的步骤中，包括：

对所述完整的待检测键盘的键帽建模图像参数进行PatternInspect训练，通过将待检测键盘的键帽建模图像参数与标准模板的预设区域进行比对，寻找差异特征，综合所有区域的差异特征实现对键盘质量的检测。

9.根据权利要求6所述的键盘键帽自动建模定位方法，其特征在于，包括：

全局二值化采用全局自适应方式进行图像二值化，实现键帽区域与字符区域的特征增强，将导致两个键帽黑色区域相连的干扰区域设置为填充区域；

通过所述Blob分析，得到黑色键帽区域，通过Blob筛选过滤去除掉干扰Blob，黑色键帽区域内的孔洞即为字符区域，找线区域根据Blob的外接矩形进行设置。

10.根据权利要求1所述的键盘键帽自动建模定位方法，其特征在于，在所述通过对待检测键盘的图像信息预设建模参数，根据键盘键帽的标准模板库进行键帽特征建模，获得待检测键盘的键帽建模图像参数的步骤中，包括：

根据待检测键盘的实际尺寸大小缩放所对应的标准模板库中的标准模板，使缩放后的标准模板的尺寸大小与待检测键盘的实际尺寸大小相同。