[发明专利]一种键盘键帽自动建模定位方法

说明书

本申请属于工业视觉检测技术领域，尤其涉及一种键盘键帽自动建模定位方法。传统的键盘检测方法中，在便捷性、适应性上存在一定缺陷，难以满足键盘制造厂商在线批量检测的需求。尤其在键盘的批量检测中，多个机台同时运行时，模板适应性差导致产品的漏检率及过杀率偏高。本申请的键盘键帽自动建模定位方法，通过采用标准模板库以及预设参数快速对应建模，建模方式简单，具有较高的便捷性与可维护性；同时本申请中的标准模板具有较高的适应性，可适用于不同检测机台，完成对键盘的高质量快速检测，检测精度高且适用范围广泛，适于在工业视觉领域中键盘的流水线检测方面进行推广运用。

技术领域

本申请涉及工业视觉检测技术领域，尤其涉及一种键盘键帽自动建模定位方法。

背景技术

键盘作为电子设备的主要输入装置，必须经过检验合格后才能投入市场。针对如何对键盘进行工业视觉的检验，目前已发展出了多种解决方案。在诸多检测方案中，机器视觉的对比检测需要针对实际的键盘进行键帽特征建模，进而与标准模板进行详细比对从而得以评价键盘是否符合标准。

因此，键帽特征建模作为键盘检测的核心部分，其效果的好坏将直接决定键盘检测的质量。传统键帽建模方法在便捷性、适应性上存在一定缺陷，难以满足键盘制造厂商在线批量检测的需求。由于键盘种类繁多，不同国家之间键帽字符、格式、大小均不相同，即使同一国家在不同的工业场景中也生产出规格标准不一的各种类型键盘。从而导致键帽特征建模尤为复杂，这将极大地影响工程师们的建模速度与精度。在批量生产中，多个机台同时运行，模板适应性差将导致产品漏检率及过杀率偏高。

综上，亟待一种具备广泛适应性的、高效率以及高精度的键盘键帽检测方法。

发明内容

本申请提供了一种键盘键帽自动建模定位方法，以解决的现有的键盘键帽检测方法存在的建模复杂、效率与精度不佳以及适应性较弱的问题。

本申请采用的技术方案如下：

一种键盘键帽自动建模定位方法，包括以下步骤：

建立键盘键帽的标准模板库，所述标准模板库中的每一个标准模板存储有该标准模板的按键轮廓图像信息以及按键字符的图像信息；

通过相机对待检测键盘进行拍摄，获取待检测键盘的图像信息；

通过对待检测键盘的图像信息预设建模参数，根据键盘键帽的标准模板库进行键帽特征建模，获得待检测键盘的键帽建模图像参数；

通过将待检测键盘的键帽建模图像参数与标准模板的图像信息参数进行比对，寻找差异特征，实现对键盘质量的检测。

可选的，所述通过相机对待检测键盘进行拍摄，获取待检测键盘的图像信息的步骤中，包括：

所述相机为双相机，通过全局定位特征实现拼合完整图像，获取待检测键盘的图像信息。

可选的，通过所述双相机获取待检测键盘的图像信息的步骤之后，在建模过程中采用对双相机拍摄的两幅图像分别进行键帽特征建模，通过全局定位特征进行图像参数的拼接，从而获取完整的待检测键盘的键帽建模图像参数。

可选的，在所述通过对待检测键盘的图像信息预设建模参数，根据键盘键帽的标准模板库进行键帽特征建模，获得待检测键盘的键帽建模图像参数的步骤中，所述键帽特征建模基于键帽区域特征参数、字符区域特征参数以及找线区域特征参数三种特征参数。

可选的，在所述通过对待检测键盘的图像信息预设建模参数，根据键盘键帽的标准模板库进行键帽特征建模，获得待检测键盘的键帽建模图像参数的步骤中，包括：

将所述待检测键盘的图像信息通过全局二值化处理为二值图像信息；

对所述二值图像信息进行区域分析，获取建模特征参数；