[发明专利]形成光致抗蚀剂图案的方法在审
申请号: | 202011627531.5 | 申请日: | 2020-12-30 |
公开(公告)号: | CN113126425A | 公开(公告)日: | 2021-07-16 |
发明(设计)人: | 苏煜中;葛宗翰;张庆裕 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | G03F1/56 | 分类号: | G03F1/56;G03F7/004 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 赵艳 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 形成 光致抗蚀剂 图案 方法 | ||
1.一种形成光致抗蚀剂图案的方法,包括:
在形成于衬底上的光致抗蚀剂层上方形成保护层;
使所述保护层和所述光致抗蚀剂层选择性地曝露于光化辐射;以及
使所述光致抗蚀剂层显影以在所述光致抗蚀剂层中形成图案,
其中所述保护层包含没有含氮部分的聚合物和碱性淬灭剂、有机酸、光酸产生剂或热酸产生剂。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述碱性淬灭剂是仲胺或叔胺、光碱产生剂或热碱产生剂。
3.根据权利要求2所述的方法,其中所述光碱产生剂选自由以下项组成的组的一种或多种:二硫代氨基甲酸季铵盐、α氨基酮、含肟-氨基甲酸酯的分子、二苯甲酮肟六亚甲基二脲、四有机基硼酸铵盐和N-(2-硝基苄氧基羰基)环胺及它们的组合。
4.根据权利要求2所述的方法,其中所述热碱产生剂是选自由以下项组成的组的一种或多种:
5.根据权利要求2所述的方法,其中所述热碱产生剂是N-(对硝基苯基)-2,6-二甲基哌啶。
6.根据权利要求1所述的方法,其中所述热酸产生剂是选自由以下项组成的组的一种或多种:
其中0≤n≤10,并且R是氢或取代或未取代C1-C10烷基。
7.根据权利要求6所述的方法,其中所述热酸产生剂是NH4+C4F9SO3-或NH4+CF3SO3-。
8.根据权利要求1所述的方法,其中基于所述聚合物和所述碱性淬灭剂、有机酸、光酸产生剂或热酸产生剂的重量,所述碱性淬灭剂、有机酸、光酸产生剂或热酸产生剂在所述保护层中的浓度范围从0.1重量%至10重量%。
9.根据权利要求1所述的方法,其中所述没有含氮部分的聚合物选自由以下项组成的组:聚丙烯酸酯、聚甲基丙烯酸甲酯、聚氟醇、聚酯、聚酰亚胺、聚醚和多元醇。
10.根据权利要求9所述的方法,其中所述聚合物不包含酸不稳性基团。
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