[发明专利]一种阻抗测试分析方法及装置

权利要求书

1.一种阻抗测试分析方法，其特征在于，包括：

获取多个样本的特征信息，并分别检测样本的阻抗值；

根据所述样本的特征信息和每个样本的阻抗值，计算整体样本的稳定性参数，以及；

根据所述稳定性参数生成质量评价系数；

建立所述特征信息和所述质量评价系数的关联数据模型；

将待测样本的特征信息输入所述关联数据模型，得到所述待测样本的质量评价系数；

其中，所述特征信息包括厂商、材料、尺寸数据和所述阻抗值的测试时间；所述稳定性参数包括不合格样品比例、样本总量、阻抗均值和阻抗方差；

所述质量评价系数通过计算获得，其计算公式为：

其中，λ表示质量评价系数，μ表示阻抗均值，f表示不合格样品比例，σ²表示阻抗方差；

还包括：

建立所述特征信息的重构模型，建立所述重构模型与所述质量评价系数的关联分析模型；

将待测样本的任一项特征信息输入所述关联数据模型，得到所述待测样本的质量评价系数；其中，所述重构模型计算公式为：

其中，G_i为重构系数，K为材料相关系数，H为材料硬度系数，dT为时间偏差，dL为尺寸偏差。

2.根据权利要求1所述的阻抗测试分析方法，其特征在于，所述不合格样品比例通过计算获得，其计算公式为：

其中，f表示不合格样品比例，m表示超出标准阈值范围的样本数量，n表示样本总量，所述标准阈值范围为(R_z，R_y)，R_z为最小标准阻抗阈值，R_y为最大标准阻抗阈值，R_z＝μ-0.05|R_max-R_min|，R_min为最小阻抗阈值，R_max为最大阻抗阈值，R_y＝μ+0.05|R_max-R_min|，μ表示阻抗均值。

3.如权利要求1所述的阻抗测试分析方法，其特征在于，所述阻抗均值通过计算获得，其计算公式为：

其中，μ表示阻抗均值，R_n表示第n个样本的阻抗值，n表示样本总量。

4.如权利要求1所述的阻抗测试分析方法，其特征在于，所述阻抗方差通过计算获得，其计算公式为：

其中，σ²表示阻抗方差，μ表示阻抗均值，R_i表示第i个样本的阻抗值，n表示样本总量，i表示常数。

5.一种阻抗测试分析装置，基于权利要求1-4中任一项所述的阻抗测试分析方法，其特征在于，包括：

阻抗测试模块，其用于获取多个样本的特征信息；

阻抗检测模块，其用于检测每个样本的阻抗值；

数据分析模块，其用于计算所述样本的稳定性参数，并根据所述稳定性参数生成质量评价系数；

数据库模块，其用于建立并保存特征信息和所述质量评价系数的关联数据模型；

结果输出模块，其用于生成所述待测样本的质量评价系数；

所述质量评价系数通过计算获得，其计算公式为：

其中，λ表示质量评价系数，μ表示阻抗均值，f表示不合格样品比例，σ²表示阻抗方差；

还包括：

建立所述特征信息的重构模型，建立所述重构模型与所述质量评价系数的关联分析模型；

将待测样本的任一项特征信息输入所述关联数据模型，得到所述待测样本的质量评价系数；其中，所述重构模型计算公式为：

其中，G_i为重构系数，K为材料相关系数，H为材料硬度系数，dT为时间偏差，dL为尺寸偏差。

6.如权利要求5所述的阻抗测试分析装置，其特征在于，所述数据分析模块包括：

第一分析单元，其用于计算所述样本的不合格样品比例；

第二分析单元，其用于计算所述样本的阻抗均值；

第三分析单元，其用于计算所述样本的阻抗方差。