[发明专利]一种阻抗测试分析方法及装置

说明书

本发明公开了一种阻抗测试分析方法，包括：获取多个样本的特征信息，并分别检测样本的阻抗值；根据样本的特征信息和每个样本的阻抗值，计算整体样本的稳定性参数，以及根据稳定性参数生成质量评价系数；建立特征信息和质量评价系数的关联数据模型；将待测样本的特征信息输入关联数据模型，得到待测样本的质量评价系数；其中，特征信息包括厂商、材料、尺寸数据和所述阻抗值的测试时间；稳定性参数包括不合格样品比例、样本总量、阻抗均值和阻抗方差；根据特征信息和稳定性参数生成质量评价系数。用户可有效直观的判断测试样本阻抗的稳定性。

技术领域

本发明涉及阻抗测试技术领域，特别涉及一种阻抗测试分析方法及装置。

背景技术

特性阻抗是解决信号完整性问题的核心。PCB在电子产品中不仅起电流导通的作用，同时也起信号传送的作用。电子产品的高频、高速化，要求PCB提供的电路性能必须保证信号在传输过程中不发生反射，保持信号完整、不失真。信号在传输的过程中，如果传输路径上的特征阻抗发生变化，信号就会在阻抗不连续的结点产生反射。

在PCB制造过程中，板卡质量会因生产厂商、生产工艺、板材材料等等因素而有差异，进而特性阻抗不能保持一致。因此，为得到精确的参数，以管控生产同时辅助电路设计分析，特性阻抗的测试是一项必不可少的工作。

一般的阻抗测试方法是：阻抗测试探头直接手动点测到待测coupon的测试点上。为全面评估PCB板卡的阻抗特性，所有重要信号层叠的阻抗都要测试，测试工作量十分巨大。传统测试方法测试、数据保存、报告整理等主要环节相互独立，每一项内容都比较耗时。不同产品批次原材料、加工工艺等有所差异，导致PCB板卡质量参差不齐，因此有必要开发一种阻抗测试分析的方法，可以直观的观测PCB板卡的质量。

发明内容

本发明提出了一种阻抗测试分析方法，通过现有样本的阻抗值和特征信息生成特征信息与质量评价系数的关联数据模型，进而待测样本能够通过将特征信息输入关联数据模型，得到所述待测样本的质量评价系数，作为直观的质量观测结果。

本发明的技术方案为：

一种阻抗测试分析方法，包括：

获取多个样本的特征信息，并分别检测样本的阻抗值；

根据样本的特征信息和每个样本的阻抗值，计算整体样本的稳定性参数，以及

根据稳定性参数生成质量评价系数；

建立特征信息和所述质量评价系数的关联数据模型；

将待测样本的特征信息输入关联数据模型，得到待测样本的质量评价系数；

其中，特征信息包括厂商、材料、尺寸数据和所述阻抗值的测试时间；稳定性参数包括不合格样品比例、样本总量、阻抗均值和阻抗方差。

优选的是，不合格样品比例通过计算获得，其计算公式为：

其中，f表示不合格样品比例，m表示超出标准阈值范围的样本数量，n表示样本总量，标准阈值范围为(R_z，R_y)，R_z为最小阻抗阈值，R_y为最大阻抗阈值，R_z＝μ-0.05|R_max-R_min|，R_min为最小阻抗阈值，R_max为最大阻抗阈值，R_y＝μ+0.05|R_max-R_min|，μ表示阻抗均值。

优选的是，阻抗均值通过计算获得，其计算公式为：

其中，μ表示阻抗均值，R_n表示第n个样本的阻抗值，n表示样本总量。