[发明专利]器件寿命测试方法、设备、终端设备和可读存储介质

权利要求书

1.一种器件寿命测试方法，其特征在于，包括：

以第一恒流电流对所述待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取所述待测试器件的第一器件亮度变化信息；

根据所述第一器件亮度变化信息，判断所述待测试器件是否达到在所述第一恒流电流下的第一器件最大亮度；

在所述待测试器件达到第一器件最大亮度时，增大所述第一恒流电流的值，并将增大后的恒流电流更新为第一恒流电流，返回执行以第一恒流电流对所述待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取所述待测试器件的第一器件亮度变化信息的步骤，直至增大后的恒流电流等于第二恒流电流；

以所述第二恒流电流对所述待测试器件持续通电以进行器件寿命测试。

2.如权利要求1所述的器件寿命测试方法，其特征在于，以所述第二恒流电流对所述待测试器件持续通电以进行器件寿命测试，包括：

获取所述待测试器件在所述第二恒流电流下的第二器件亮度变化信息，所述第二恒流电流大于所述第一恒流电流，且所述第二恒流电流大于所述待测试器件的工作电流；

根据所述第二器件亮度变化信息，判断所述待测试器件是否达到在所述第二恒流电流下的第二器件最大亮度，在所述待测试器件达到所述第二器件最大亮度时，对所述待测试器件持续通电以进行器件寿命测试。

3.如权利要求1所述的器件寿命测试方法，其特征在于，增大所述第一恒流电流的值，包括：等差增大、等比增大、线性增大、对数增大或者指数增大所述第一恒流电流的值。

4.如权利要求1所述的器件寿命测试方法，其特征在于，根据所述第一器件亮度变化信息，判断所述待测试器件是否达到在所述第一恒流电流下的第一器件最大亮度，包括：

根据所述第一器件亮度变化信息，若确定出所述待测试器件在第一目标时刻的器件亮度大于所述第一目标时刻前一时刻的器件亮度，又大于所述第一目标时刻后一时刻的器件亮度，则判断所述待测试器件在所述第一目标时刻达到所述第一恒流电流下的最大亮度。

5.如所述权利要求2所述的器件寿命测试方法，其特征在于，根据所述第二器件亮度变化信息，判断所述待测试器件是否达到在所述第二恒流电流下的第二器件最大亮度，包括：

根据所述第二器件亮度变化信息，若确定出所述待测试器件在第二目标时刻的器件亮度大于所述第二目标时刻前一时刻的器件亮度，又大于所述第二目标时刻后一时刻的器件亮度，则判断所述待测试器件在所述第二目标时刻达到所述第二恒流电流下的最大亮度。

6.如权利要求1所述的器件寿命测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取由亮度计测量的参考亮度，所述参考亮度为所述待测试器件在参考时刻对应的亮度。

7.如权利要求4所述的器件寿命测试方法，其特征在于，所述参考亮度包括：由亮度计测得的第一器件最大亮度、由亮度计测得的第二器件最大亮度，或者由亮度计测得的所述待测试器件的结束亮度。

8.如权利要求4所述的器件寿命测试方法，其特征在于，获取由亮度计测量的参考亮度之后，还包括：

获取参考亮度变化信息，所述参考亮度变化信息为所述待测试器件在参考时刻的亮度变化信息；

获取候选目标亮度变化信息，所述候选目标亮度变化信息为所述待测试器件在候选目标时刻的亮度变化信息；

根据所述参考亮度、参考亮度变化信息和候选目标亮度变化信息，确定所述待测试器件的候选目标亮度，其中所述候选目标亮度为所述待测试器件持续通电过程中在候选目标时刻对应的亮度。

9.如权利要求1所述的器件寿命测试方法，其特征在于，判断所述待测试器件是否达到在所述第二恒流电流下的第二器件最大亮度之后，还包括：

判断所述待测试器件在第一预设时间内的器件亮度变化值是否小于第一预设浮动值；

对所述待测试器件持续通电以进行器件寿命测试。