[发明专利]器件寿命测试方法、设备、终端设备和可读存储介质

说明书

本申请实施例提供了一种器件寿命测试方法、设备、终端设备和可读存储介质，所述方法包括：以第一恒流电流对待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取待测试器件的第一器件亮度变化信息；根据第一器件亮度变化信息，判断待测试器件是否达到在第一恒流电流下的第一器件最大亮度；在待测试器件达到第一器件最大亮度时，增大第一恒流电流的值，直至增大后的恒流电流等于第二恒流电流；以第二恒流电流对待测试器件持续通电以进行器件寿命测试。本申请实施例通过由较低的第一恒流电流开始逐步增加至第二恒流电流，保证了器件既得到充分的通电，又减少对器件的损伤，降低待测试器件因起始状态不稳定造成的亮度波动，提高提高寿命测试准确性。

技术领域

本申请属于用电设备测试领域，尤其涉及一种器件寿命测试方法、设备、终端设备和可读存储介质。

背景技术

近年来，量子点发光二极管(QLED)及有机发光二极管(OLED)因具备高亮度、低功耗、广色域、易加工等诸多优点在照明和显示领域获得了广泛的关注与研究。相对比有机发光二极管(OLED)，在同等画质下，QLED的节能性有望达到OLED的两倍，发光率将提升30％至40％。同时，QLED具有启亮电压低、光致发光光谱半高宽窄、发光波长与颜色可通过量子点颗粒尺寸进行调节和低成本溶液法制备等优点，在固态照明和显示领域有巨大的应用潜力。作为一种显示器件，在实际研发过程中，需要对器件进行寿命测试评估。

然而，现有的器件寿命测试方法中，通常采用加速老化手段，例如在提高测试环境温度或湿度，使器件在严苛的测试条件下加速老化测试。在加速老化测试时，起始测试时，对器件损伤大，器件状态不稳定，导致亮度波动大，使得亮度准确性下降，而起始亮度值不准确，会造成器件寿命测试的结果有较大的误差。

发明内容

本申请实施例提供了一种器件寿命测试方法、设备、终端设备和可读存储介质，可以有效减少加速老化测试对器件的损伤，提高寿命测试准确性。

第一方面，本申请实施例提供了一种器件寿命测试方法，包括：

以第一恒流电流对所述待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取所述待测试器件的第一器件亮度变化信息；

根据所述第一器件亮度变化信息，判断所述待测试器件是否达到在所述第一恒流电流下的第一器件最大亮度；

在所述待测试器件达到第一器件最大亮度时，增大所述第一恒流电流的值，并将增大后的恒流电流更新为第一恒流电流，返回执行以第一恒流电流对所述待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取所述待测试器件的第一器件亮度变化信息的步骤，直至增大后的恒流电流等于第二恒流电流；

以所述第二恒流电流对所述待测试器件持续通电以进行器件寿命测试。

第二方面，本申请实施例提供了一种器件寿命测试设备，包括：

获取模块，用于以第一恒流电流对所述待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取所述待测试器件的第一器件亮度变化信息；

判断模块，用于根据所述第一器件亮度变化信息，判断所述待测试器件是否达到在所述第一恒流电流下的第一器件最大亮度；

通电模块，用于在所述待测试器件达到第一器件最大亮度时，增大所述第一恒流电流的值，并将增大后的恒流电流更新为第一恒流电流，返回执行以第一恒流电流对所述待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取所述待测试器件的第一器件亮度变化信息的步骤，直至增大后的恒流电流等于第二恒流电流；

测试模块，用于以所述第二恒流电流对所述待测试器件持续通电以进行器件寿命测试。

第三方面，本申请实施例提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现器件寿命测试方法的步骤。