[发明专利]异物测试装置和异物测试方法

说明书

本发明实施例提供了一种异物测试装置，包括：异物测试基板和异物测试模组，异物测试模组，用于通过电性变化来检测待检测样品表面的异物情况。当待检测样品表面存在异物时，会造成异物测试模组的电性变化。本发明的异物测试装置通过监测异物测试模组的电性变化情况，可以有效判断待检测样品表面的异物情况，尤其是在显示面板的制备过程中，可以有效检测承载显示面板的平台上是否存在异物，从而减少平台上异物对显示面板产品的影响，避免造成显示面板产品黑斑和点线不良等问题的出现,有效提升显示面板产品的良率。

技术领域

本发明涉及一种异物测试装置和异物测试方法，具体属于检测技术领域。

背景技术

有机发光二极管(英文：Organic Light Emitting Diode，简称：OLED)显示面板以其全固态、主动发光、高对比度、超薄、低功耗、响应速度快等诸多优点，逐渐成为目前显示领域极具前景的显示产品。现有显示面板的制造工艺中经常需要用到承载平台对产品进行承载，承载平台上的异物对产品特性会产生影响，因此，如何检测承载平台上的异物情况，成为急需解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例致力于提供一种异物测试装置和测试方法，能够有效对待检测样品表面的异物情况进行检测。

本发明实施例第一方面提供了一种异物测试装置，包括：异物测试基板和异物测试模组，其中，所述异物测试基板，承载所述异物测试模组；所述异物测试模组，用于通过电性变化来检测待检测样品表面的异物情况。

在第一方面的一个可替换的实施例中，所述异物测试模组包括第一电极、第二电极和支撑层，所述第一电极位于所述异物测试基板上，所述第二电极位于所述第一电极远离所述异物测试基板一侧，且所述第一电极和所述第二电极之间具有间隙，所述第一电极和第二电极通过支撑层连接。

在第一方面的一个可替换的实施例中，所述支撑层为弹性可伸缩结构。

在第一方面的一个可替换的实施例中，所述第二电极的材料为弹性材料。

在第一方面的一个可替换的实施例中，所述第一电极为平板状，所述支撑层围绕所述第一电极的边缘设置，还包括分割层，所述分割层设置于所述第一电极朝向所述第二电极的一侧，且位于所述支撑层朝向所述第一电极中心一侧。

在第一方面的一个可替换的实施例中，所述第一电极包括至少两个第一子电极，相邻所述第一子电极之间具有间隙，所述第一子电极通过所述分割层和/或所述支撑层与所述第二电极连接；和/或，

所述第二电极包括至少两个第二子电极，相邻所述第二子电极之间具有间隙，所述第二子电极通过所述分割层和/或所述支撑层与所述第一电极连接。

在第一方面的一个可替换的实施例中，所述异物测试基板和所述异物测试模组为圆柱状，所述异物测试基板和所述异物测试模组构成套筒，所述异物测试模组位于所述异物测试基板的外侧。

在第一方面的一个可替换的实施例中，还包括监测模组，所述监测模组分别与所述第一电极和所述第二电极电连接。

本发明实施例的第二方面提供了一种异物测试方法，包括：

提供一异物测试装置，所述异物测试装置包括：异物测试基板和异物测试模组，所述异物测试基板承载所述异物测试模组；

将所述异物测试模组置于待检测样品表面，监测所述异物测试模组的电性变化，当所述电性变化超出预设范围，则判定所述待检测样品表面有异物，反之则无异物。

在第二方面的一个可替换的实施例中，所述异物测试基板和所述异物测试模组为圆柱状，所述异物测试基板和所述异物测试模组构成套筒，所述异物测试模组位于所述异物测试基板的外侧；

所述将所述异物测试模组置于待检测样品表面，监测所述异物测试模组的电性变化的步骤，包括，