[实用新型]开尔文检测电路和芯片测试系统有效

专利信息
申请号: 202020072129.4 申请日: 2020-01-14
公开(公告)号: CN211905585U 公开(公告)日: 2020-11-10
发明(设计)人: 李朔男;张杰;金晔;王钢;陶银娇 申请(专利权)人: 北京华峰测控技术股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 代理人: 魏朋
地址: 100071 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 开尔文 检测 电路 芯片 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种开尔文检测电路,其特征在于,包括:

多路电路臂,与被测器件端口一一对应,每路所述电路臂由两路子电路构成,所述两路子电路的输出端连接端与被测器件的同一端口连接,另一端为开放端;所述两路子电路的开放端分别对应为所述开尔文检测电路的驱动端和感测端;以及

开关电路,设置于测试板转接板,用于在检测阶段,选定两路所述电路臂,并将选定的每一所述电路臂中的所述两路子电路短路,然后将选定的两路所述电路臂连接至所述被测器件的同一端口,构成测试回路。

2.如权利要求1所述的开尔文检测电路,其特征在于,所述开尔文检测电路包括两路所述电路臂,其中一路为H端电路臂,另一路为L端电路臂,所述H端电路臂包括H端驱动子电路和H端感测子电路,所述L端电路臂包括L端驱动子电路和L端感测子电路。

3.如权利要求2所述的开尔文检测电路,其特征在于,所述开关电路包括:

第一开关支路,其第一端与所述H端感测子电路的感测端连接,第二端与所述H端感测子电路的输出端连接,第三端与所述H端驱动子电路连接,第四端与所述L端驱动子电路连接,用于在检测所述被测器件的H端的接触电阻时,将所述H端驱动子电路和所述H端感测子电路短路,断开所述H端感测子电路的感测端与输出端之间的连接,并将所述L端驱动子电路与所述H端感测子电路的输出端连接;

第二开关支路,其一端连接所述L端驱动子电路,另一端连接所述L端感测子电路的感测端,用于在检测所述被测器件的H/L端的接触电阻时,将L端驱动子电路和L端感测子电路短路;以及

第三开关支路,其第一端与所述L端感测子电路的感测端连接,第二端与所述L端感测子电路的输出端连接,第三端与所述H端驱动子电路连接,第四端与所述H端感测子电路的感测端连接,用于在检测所述被测器件的L端的接触电阻时,所述H端驱动子电路和所述H端感测子电路短路,断开所述L端感测子电路的感测端与输出端之间的连接,并将所述H端驱动子电路与所述L端感测子电路的输出端连接。

4.如权利要求3所述的开尔文检测电路,其特征在于,所述第一开关支路包括第一双刀双掷开关;

所述第一双刀双掷开关包括四个静触头、两个动触头和两个闸刀,其第一静触头与所述H端感测子电路的感测端连接,第二静触头与所述L端驱动子电路连接,第三静触头与所述H端驱动子电路连接,第四静触头悬空,第一动触头与所述H端感测子电路的输出端连接,第二动触头与所述H端感测子电路的感测端连接,并且,所述第一动触头控制第一闸刀在所述第一静触头和所述第二静触头之间切换,所述第二动触头控制第二闸刀在所述第三静触头和所述第四静触头之间切换。

5.如权利要求3所述的开尔文检测电路,其特征在于,所述第三开关支路包括第二双刀双掷开关;

所述第二双刀双掷开关包括四个静触头、两个动触头和两个闸刀,其第一静触头与所述L端感测子电路的感测端连接,第二静触头和第三静触头均与所述H端驱动子电路连接,第四静触头悬空,第一动触头与所述L端感测子电路的输出端连接,第二动触头与所述H端感测子电路的感测端连接,并且,所述第一动触头控制第三闸刀在所述第一静触头和所述第二静触头之间切换,所述第二动触头控制第四闸刀在所述第三静触头和所述第四静触头之间切换。

6.如权利要求1所述的开尔文检测电路,其特征在于,还包括:

电流表,串联在所述测试回路中,用于检测所述测试回路中的测试电路;以及

电压表,分别连接所述测试回路中的两个所述输出端,用于测试两个所述输出端之间的测试电压。

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