[实用新型]一种射频性能测试系统

权利要求书

1.一种射频性能测试系统，其特征在于：包括暗室(1)、转台(2)、杂散探头(5)、平面波生成器(4)和测试仪表(7)，所述转台(2)、所述杂散探头组件和所述平面波生成器(4)设置在所述暗室内(1)，所述测试仪表(7)设置在所述暗室(1)外侧；

所述暗室(1)的内壁均铺设有吸波材料；

所述转台(2)包括固定件和至少两个调节轴，所述固定件用于固定被测件(3)，所述至少两个调节轴与所述固定件连接，所述至少两个调节轴能够通过所述固定件带动所述被测件(3)沿不同方向运动；

所述杂散探头(5)与所述被测件(3)的相位中心对齐，所述杂散探头所工作的频段能够覆盖所述被测件的频段；

所述平面波生成器(4)与所述被测件(3)的相位中心对齐；

所述测试仪表(7)分别与所述杂散探头(5)和所述平面波生成器(4)连接。

2.根据权利要求1所述的射频性能测试系统，其特征在于：所述测试仪表(7)连接一开关矩阵，所述开关矩阵分别与所述杂散探头(5)和所述平面波生成器(4)连接。

3.根据权利要求1所述的射频性能测试系统，其特征在于：所述杂散探头(5)的数量为至少三个，至少三个所述杂散探头(5)组成的频段覆盖30MHz～18GHz的测试天线。

4.根据权利要求3所述的射频性能测试系统，其特征在于：所述杂散探头(5)的数量为三个，三个所述杂散探头(5)的频段分别是30MHz～300MHz、300MHz～1GHz和1GHz～18GHz。

5.根据权利要求3所述的射频性能测试系统，其特征在于：所述杂散探头(5)的分布位置为所述暗室(1)的顶面、侧面或所述平面波生成器(4)探头的正前方，至少三个所述杂散探头(5)的分布位置不相同。

6.根据权利要求5所述的射频性能测试系统，其特征在于：所述暗室(1)的内壁上设有多个探头安装孔，多个所述探头安装孔分别设置在所述暗室(1)的不同内壁上，所述杂散探头(5)与所述探头安装孔可拆卸连接。

7.根据权利要求1所述的射频性能测试系统，其特征在于：所述调节轴包括方位轴，所述方位轴用于带动所述被测件(3)实现水平方向0-360°的旋转。

8.根据权利要求7所述的射频性能测试系统，其特征在于：所述调节轴还包括Y平移轴、X平移轴和倒伏轴，所述固定件包括翻滚轴，所述Y平移轴与暗室底部连接，所述X平移轴设置在所述Y平移轴上并能够沿所述Y平移轴移动，所述方位轴与所述X平移轴连接并能够沿所述X平移轴移动，所述方位轴顶部设有所述倒伏轴，所述倒伏轴与所述固定件连接，所述固定件的所述翻滚轴与所述被测件(3)连接，所述倒伏轴能够驱动所述固定件旋转预设角度，所述翻滚轴用于带动所述被测件(3)实现翻滚方向0-360°的旋转。