[实用新型]一种射频性能测试系统

说明书

本实用新型提供了一种射频性能测试系统，包括暗室、设置在暗室内的转台、杂散探头组件、平面波生成器和设置在暗室外的测试仪表；转台包括用于固定被测件的固定件和至少两个调节轴，所述至少两个调节轴与固定件连接并带动被测件沿不同方向运动；杂散探头与所述被测件的相位中心对齐，所述杂散探头所工作的频段能够覆盖所述被测件的频段；平面波生成器与被测件的相位中心对齐；测试仪表分别与杂散探头和平面波生成器连接。本实用新型的射频性能测试系统，暗室内同时设有杂散探头和平面波生成器，满足一个测试场完成全频段测试的需求，既能实现对天线带内指标的测试，又能实现对天线带外杂散的测试，一场多用。

技术领域

本发明涉及天线系统的指标测试技术领域，具体涉及一种射频性能测试系统。

背景技术

当前，5G Massive MIMO有源天线(简称AAS)不同于传统2/3/4G的基站，它将多个射频发射和接收模块(RU)与大规模天线阵列集成，整体组装好之后对外不再具有射频接口，在行业标准3GPP TS38.141的定义中，FR1(低于6GHz 频段)的AAS采用OTA(空口)测量的指标项较少，FR2(毫米波频段)的所有指标项则必须采用OTA(空口)方式测量。

由于5G AAS的发射带宽最低为100MHz，最高400MHz，故这一段频带内的指标也叫做有用信号指标，如发射功率、EVM、ACLR、灵敏度等，频带外的指标也叫做带外指标，如杂散，阻塞，上述频带内指标和频带外指标统称为射频一致性指标。其中，杂散还分为通用杂散和共址共存杂散。通用杂散是指全频带内的杂散信号，共址共存杂散是指对别的基站的杂散影响，一般都是一些别的通信系统的窄带频段。

当前适用于AAS测试射频性能的OTA场主要有远场、紧缩场等。远场由于信号衰减太大，低杂散信号很难测量精确；紧缩场虽然克服了路径损耗的问题，但其反射面的频段最低只能到1GHz，通用杂散中，30MHz～1GHz的杂散仍然无法覆盖。可见，无论是远场还是紧缩场，如果既要测试带内指标，又要测试带外杂散的话，都存在一定的局限性。当前并没有适合做全频段发射机和接收机射频性能测试的适宜方法和装置，能够同时对带内指标及全频段杂散进行测试。

综上所述，有必要设计一种射频性能测试系统，对现有情况作出改善。

发明内容

本发明的目的是针对上述现有技术存在的技术问题，提供一种射频性能测试系统，能够同时对天线的带内指标及全频段杂散进行测试，解决了当前没有适合做全频段发射机和接收机射频性能测试的系统的问题。

为了解决背景技术中的技术问题，本发明采用的技术方案是：提供一种射频性能测试系统，包括暗室、转台、杂散探头组件、平面波生成器和测试仪表，所述转台、所述杂散探头组件和所述平面波生成器设置在所述暗室内，所述测试仪表设置在所述暗室外侧；

所述暗室的内壁均铺设有吸波材料；

所述转台包括固定件和至少两个调节轴，所述固定件用于固定被测件，所述至少两个调节轴与所述固定件连接，所述至少两个调节轴能够通过所述固定件带动所述被测件沿不同方向运动；

所述杂散探头与所述被测件的相位中心对齐，所述杂散探头所工作的频段能够覆盖所述被测件的频段；

所述平面波生成器与所述被测件的相位中心对齐，所述平面波生成器用于在所述被测件区域形成平面波，并接收所述被测件的发射信号，传递至所述测试仪表，以及向所述被测件发射信号；

所述测试仪表分别与所述杂散探头和所述平面波生成器连接。

进一步地，所述测试仪表连接一开关矩阵，所述开关矩阵分别与所述杂散探头和所述平面波生成器连接。所述开关矩阵的档位可以在所述杂散探头和所述平面波生成器之间切换，以实现所述杂散探头和所述平面波生成器轮询切换测试的效果。