[实用新型]一种半导体硅圆片清洗用分离装置有效
申请号: | 202020190678.1 | 申请日: | 2020-02-20 |
公开(公告)号: | CN211700204U | 公开(公告)日: | 2020-10-16 |
发明(设计)人: | 祝斌;刘姣龙;裴坤羽;武卫;孙晨光;刘建伟;王彦君;王聚安;由佰玲;刘园;常雪岩;杨春雪;谢艳;刘秒;吕莹;徐荣清 | 申请(专利权)人: | 天津中环领先材料技术有限公司;中环领先半导体材料有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 天津诺德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 12213 | 代理人: | 栾志超 |
地址: | 300384 天津市滨海*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 硅圆片 清洗 分离 装置 | ||
1.一种半导体硅圆片清洗用分离装置,包括槽体,其特征在于,所述槽体内设有用于承载竖直放置硅圆片的片篮;在所述槽体内设有用于推动所述硅圆片并使所述硅圆片从所述片篮中移出的分离部件,所述分离部件被设置贯穿于所述片篮底部。
2.根据权利要求1所述的一种半导体硅圆片清洗用分离装置,其特征在于,所述片篮内侧壁设有插槽且其底部设有并行设置的档条,在所述档条之间设有间隙通道。
3.根据权利要求2所述的一种半导体硅圆片清洗用分离装置,其特征在于,所述分离部件包括顶杆和置于所述顶杆上端并与所述顶杆连接的顶板,所述顶杆带动所述顶板通过所述间隙通道推动所述硅圆片沿所述插槽向上移动。
4.根据权利要求3所述的一种半导体硅圆片清洗用分离装置,其特征在于,所述顶板上端面设有若干组用于放置所述硅圆片的卡槽,所述卡槽沿所述顶板宽度方向设置;所述卡槽与所述插槽上下位置对应。
5.根据权利要求4所述的一种半导体硅圆片清洗用分离装置,其特征在于,在所述顶板上端面上还设有若干列用于溢流的通槽,所述通槽沿所述顶板长度方向设置,所述通槽与所述卡槽交叉互通设置。
6.根据权利要求2-5任一项所述的一种半导体硅圆片清洗用分离装置,其特征在于,在所述槽体内侧底部设有用于固定装有硅圆片片篮的定位组件,所述定位组件置于所述片篮底部棱角处设置或边长处设置。
7.根据权利要求6所述的一种半导体硅圆片清洗用分离装置,其特征在于,所述定位组件包括四个角定位块,所述角定位块置于所述片篮底部四个棱角处外侧,并与所述片篮底部棱角相适配。
8.根据权利要求6所述的一种半导体硅圆片清洗用分离装置,其特征在于,所述定位组件包括两组对称设置的边定位块,长度方向的所述边定位块长度大于宽度方向的所述边定位块长度。
9.根据权利要求2-5、7-8任一项所述的一种半导体硅圆片清洗用分离装置,其特征在于,还包括用于夹装所述硅圆片的机械手,所述机械手包括架体和置于所述架体下端部的夹柱,每侧所述架体沿其高度方向设有两组所述夹柱,靠近所述分离部件一侧的所述夹柱之间的距离小于远离所述分离部件一侧的所述夹柱之间的距离。
10.根据权利要求9所述的一种半导体硅圆片清洗用分离装置,其特征在于,所述夹柱并行于所述片篮长度方向设置,在所述夹柱长度方向上设有若干组凹槽,所述凹槽与所述插槽位置相对应。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造