[实用新型]共轴对位检测光学系统

说明书

一种共轴对位检测光学系统，属于自动化检测组装技术领域。该共轴对位检测光学系统包括上物料定位组件、下物料定位组件、立方棱镜、工业镜头和工业相机；立方棱镜由两直角棱镜粘结得到，两直角棱镜中至少一个在粘结面镀有半透半反膜；粘结面与工业镜头对应设置，工业镜头与工业相机连接；上物料定位组件包括上环形光源和上半透半反平面镜，下物料定位组件包括下环形光源和下半透半反平面镜；上半透半反平面镜与一直角棱镜上一方形平面相对设置，下半透半反平面镜与另一直角棱镜上一方形平面相对设置，两方形平面平行设置。本实用新型通过立方棱镜实现双光路的同轴定位检测，节省了物料定位时间，且提高了精度。

技术领域

本实用新型涉及的是一种自动化检测组装领域的技术，具体是一种共轴对位检测光学系统。

背景技术

在自动化检测组装行业，一般对位组装工站会使用两组视觉系统进行上下物料的对位检测，下相机获取下物料图像并定位之后，再由上相机定位上物料，并由机械臂抓取上物料移动至与下物料同轴的位置处，这类对位组装过程耗时较长且定位精度不高，而且需要两组镜头相机组成的视觉系统，会增加成本。

为了解决现有技术存在的上述问题，本实用新型由此而来。

实用新型内容

本实用新型针对现有技术存在的上述不足，提出了一种共轴对位检测光学系统，通过立方棱镜实现双光路的同轴定位检测，节省了物料定位时间，且提高了精度。

本实用新型包括：上物料定位组件、下物料定位组件、立方棱镜、工业镜头和工业相机；

立方棱镜由两直角棱镜粘结得到，两直角棱镜中至少一个在粘结面镀有半透半反膜；粘结面与工业镜头对应设置，工业镜头与工业相机连接；立方棱镜设置在上物料定位组件和下物料定位组件之间；

上物料定位组件包括上环形光源和上半透半反平面镜，下物料定位组件包括下环形光源和下半透半反平面镜；上半透半反平面镜与一直角棱镜上一方形平面相对设置，下半透半反平面镜与另一直角棱镜上一方形平面相对设置，两方形平面平行设置。

优选地，所述上物料定位组件与下物料定位组件关于立方棱镜中心对称放置，且上环形光源、上半透半反平面镜、下半透半反平面镜、下环形光源和立方棱镜的几何中心在同一条垂轴上。

进一步优选地，所述上半透半反平面镜和下半透半反平面镜均镀有半透半反膜。

优选地，所述两方形平面以及立方棱镜上靠近工业镜头一方形平面均镀有增透膜，立方棱镜上远离工业镜头一方形平面镀有反射膜。

优选地，本实用新型设置在暗室中。

进一步优选地，对应上物料定位组件设有上背光源，对应下物料定位组件设有下背光源。

技术效果

与现有技术相比，本实用新型具有如下技术效果：

1)通过立方棱镜实现了双光路的同轴定位检测，大大节省了上下物料定位所需要的时间，同时也提高了定位精度，上下物料的定位检测仅使用一组镜头相机，节省了成本；

2)立方棱镜上远离工业镜头一方形平面镀有反射膜，减少了光线在传播过程中的损失，提高了物料打光亮度；

3)背光源结合半透半反平面镜的设计，起到了对物料补光的作用，使抓取物料图像更清晰，从而定位更精确。

附图说明

图1为实施例1的整体结构示意图；

图2为图1中立方棱镜侧视图；

图中：上物料定位组件1、下物料定位组件2、立方棱镜3、工业镜头4、工业相机5、平面镜夹持件6；

上环形光源11、上半透半反平面镜12、上背光源13；