[实用新型]半导体晶棒测试装置

说明书

本实用新型提供半导体晶棒测试装置，包括工作台，所述工作台顶部正面的中心处放置有键盘，所述工作台顶部正面的右侧放置有鼠标，所述工作台顶部的四周均栓接有安装架，所述安装架顶部的右侧放置有电脑主机，所述安装架顶部的中心处放置有显示屏，所述显示屏的屏幕显示有系统测试界面，所述安装架顶部的左侧从上至下依次放置有控制机箱和测试仪本体。本实用新型通过键盘、鼠标和电脑主机的配合，可对显示屏进行运算操作，继而通过系统测试界面对晶棒的温差电性能测试数据进行显示，通过控制机箱、测试仪本体、DB25连接线和测试架的配合，可对晶棒的温差电性能数据进行精准测试，提高晶棒的温差电性能测试的精准度。

技术领域

本实用新型涉及半导体测试装置领域，尤其涉及半导体晶棒测试装置。

背景技术

半导体，指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，半导体是指一种导电性可受控制，范围可从绝缘体至导体之间的材料，无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。

晶棒作为常见的半导体，在很多电子设备领域都会应用到，然而使用者对晶棒生产过程中，需要对晶棒的温差电性能进行检测，从而会用到测试装置，然而现有的测试装置在测试过程中，不可对晶棒的温差电性能进行精准检测，往往存在较大的误差，超过晶棒的合理误差范围，从而降低晶棒的温差电性能，影响设备的整体性能。

因此，有必要提供半导体晶棒测试装置解决上述技术问题。

实用新型内容

本实用新型提供半导体晶棒测试装置，解决了现有测试装置在测试过程中，不可对晶棒温差电性能进行精准检测的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型提供的半导体晶棒测试装置，包括工作台，所述工作台顶部正面的中心处放置有键盘，所述工作台顶部正面的右侧放置有鼠标，所述工作台顶部的四周均栓接有安装架，所述安装架顶部的右侧放置有电脑主机，所述安装架顶部的中心处放置有显示屏，所述显示屏的屏幕显示有系统测试界面，所述安装架顶部的左侧从上至下依次放置有控制机箱和测试仪本体，所述控制机箱远离测试仪本体的一侧通过DB25连接线活动连接有测试架，所述测试架的背面和安装架正面的中心处栓接。

优选的，所述控制机箱、测试仪本体和电脑主机相向的一侧活动连接有USB连接线，所述USB连接线的数量为两根。

优选的，所述控制机箱和测试仪本体的表面分别开设有正极插口和负极插口，且正极插口和负极插口相向的一端活动连接有正极表线和负极表线。

优选的，所述工作台顶部的两侧均横向栓接有限位护栏，所述限位护栏的顶部与安装架的底部栓接，所述限位护栏的正面开设有防护倒角。

优选的，所述工作台底部的四周均竖向栓接有支撑腿，所述支撑腿的底部焊接有支撑脚，所述支撑脚的形状设置为圆形，所述支撑脚的横截面积大于支撑腿的横截面积。

优选的，所述支撑脚的底部通过强力密封胶粘接有防滑垫，且防滑垫的厚度至少为一厘米。

优选的，所述工作台底部的中心处一体加工有抽屉，所述抽屉正面顶部的中心处开设有拉柄槽，所述鼠标的底部垫设有鼠标垫。

与相关技术相比较，本实用新型提供的半导体晶棒测试装置具有如下有益效果：

本实用新型提供半导体晶棒测试装置，

1、本实用新型通过键盘、鼠标和电脑主机的配合，可对显示屏进行运算操作，继而通过系统测试界面对晶棒的温差电性能测试数据进行显示，通过控制机箱、测试仪本体、DB25连接线和测试架的配合，可对晶棒的温差电性能数据进行精准测试，提高晶棒的温差电性能测试的精准度，提高晶棒的整体性能和质量。