[实用新型]一种显微镜点扩散函数的测量设备

权利要求书

1.一种显微镜点扩散函数的测量设备，其特征在于，包括：激光发射装置，点扩散函数校准装置，位移台和终端设备，其中，所述点扩散函数校准装置设置在所述位移台上，所述终端设备与分别所述激光发射装置、所述点扩散函数校准装置和所述位移台相连接；

所述激光发射装置，用于以不同空间姿态向所述点扩散函数校准装置初始线偏振光束，以及检测目标线偏振光束的纵向高度值，其中，所述目标线偏振光束为所述线偏振光线经过所述点扩散函数校准装置处理之后得到的线偏振光束；

所述点扩散函数校准装置，用于检测所述初始线偏振光束的方向向量，以及所述初始线偏振光束形成的光斑的位置坐标；

所述位移台，用于调整所述点扩散函数校准装置的空间姿态；

所述终端设备，用于根据所述纵向高度值、所述方向向量和所述光斑的位置坐标，确定出垂直于显微镜的光轴的各个高度的物面。

2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述激光发射装置，包括：光纤激光头，第一调节架，平面分光镜，第一探测器和第二调节架，其中，所述光纤激光头与所述第一调节架相连接，所述平面分光镜和所述第一探测器设置在所述第二调节架上；

所述光纤激光头，用于发射所述初始线偏振光束；

所述第一调节架，用于调节所述光纤激光头的空间姿态；

所述平面分光镜，用于对所述目标线偏振光输进行分光处理，得到第一子线偏振光束和第二子线偏振光束；

所述第一探测器，用于检测所述第一子线偏振光束的纵向高度值，并所述第一子线偏振光束的纵向高度值确定为所述目标线偏振光束的纵向高度值；

所述第二调节架，用于调整所述平面分光镜和所述第一探测器的空间姿态。

3.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，所述点扩散函数校准装置，包括：双光斑光束向量测量装置，折光镜，第一镜面组，第一角锥，第一波片和第二镜面组，其中，所述折光镜的空间姿态为固定姿态，所述折光镜设置在所述双光斑光束向量测量装置与所述第一镜面组之间，所述第一镜面组设置在所述第二镜面组和所述折光镜之间，所述第一波片设置在所述第一镜面组的侧面；

所述双光斑光束向量测量装置，用于测量所述初始线偏振光束的方向向量，以及所述初始线偏振光束形成的光斑的位置坐标，以及用于检测所述第二子线偏振光束的方向向量，以及所述第二子线偏振光束形成的光斑的位置坐标，以及对所述初始线偏振光束进行折光处理，得到中间线偏振光束；

所述折光镜，用于将所述初始线偏振光束折射至所述双光斑光束向量测量装置；

所述第一镜面组，用于将所述第一子线偏振光束折射至所述双光斑光束向量测量装置，以及对所述中间线偏振光束进行分光处理，得到所述目标线偏振光束和线偏振态光束线；

所述第一角锥，用于将所述目标线偏振光束折射至所述激光发射装置；

所述第一波片，用于所述线偏振态光束线转变为第一圆偏振光束；

所述第二镜面组，用于接收所述目标线偏振光束，以及用于承载纳米荧光颗粒，并将所述目标线偏振光束透射至所述激光发射装置。

4.根据权利要求3所述的设备，其特征在于，所述双光斑光束向量测量装置包括：探测器组和第二角锥，其中，所述第二角锥设置于所述探测器组之间；

所述探测器组，用于测量所述初始线偏振光束的方向向量，以及所述初始线偏振光束形成的光斑的位置坐标，以及用于检测所述第二子线偏振光束的方向向量；

所述第二角锥，用于对所述初始线偏振光束进行折光处理，得到所述目标线偏振光束。

5.根据权利要求4所述的设备，所述探测器组包括：第二探测器和第三探测器。

6.根据权利要求3所述的设备，其特征在于，所述第一镜面组包括：第一分光面，第二分光面和直角斜面，其中，所述第一分光面和第二分光面之间设置有所述第一波片，所述直角斜面平行于所述双光斑光束向量测量装置构建的坐标系的平面坐标YZ；

所述第一分光面，用于透过所述中间线偏振光束中的线偏振态光束线；

所述第二分光面，用于对所述线偏振态光束线进行分光处理，得到所述目标线偏振光束和线偏振态光束线；

所述直角斜面，用于将所述目标线偏振光束透射至所述激光发射装置。