[实用新型]一种晶体管结构有效
申请号: | 202020257664.7 | 申请日: | 2020-03-04 |
公开(公告)号: | CN211480025U | 公开(公告)日: | 2020-09-11 |
发明(设计)人: | 张静;金起準 | 申请(专利权)人: | 合肥晶合集成电路有限公司 |
主分类号: | H01L27/115 | 分类号: | H01L27/115;H01L27/11521 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 王华英 |
地址: | 230012 安徽省合肥*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 晶体管 结构 | ||
1.一种晶体管结构,其特征在于,其包括:
基底;
多个栅极结构,其设置在所述基底上,相邻所述栅极结构之间设有预设间隔距离;
侧墙结构,其设置在每个所述栅极结构的两侧;
台阶结构,其设置在所述侧墙结构与所述基底的连接处;
薄膜层,其设置在所述基底上,且覆盖所述基底、所述多个栅极结构、所述侧墙结构和所述台阶结构。
2.根据权利要求1所述一种晶体管结构,其特征在于,所述晶体管结构还包括栅极氧化层,所述栅极氧化层设置在所述基底上,且位于所述基底与所述多个栅极结构之间。
3.根据权利要求2所述一种晶体管结构,其特征在于,所述栅极氧化层为氧化硅层。
4.根据权利要求1所述一种晶体管结构,其特征在于,所述预设间隔距离为80-110nm。
5.根据权利要求1所述一种晶体管结构,其特征在于,所述侧墙结构为氧化硅层。
6.根据权利要求1所述一种晶体管结构,其特征在于,所述台阶结构为氧化硅层。
7.根据权利要求1所述一种晶体管结构,其特征在于,所述侧墙结构的厚度为6-10nm。
8.根据权利要求1所述一种晶体管结构,其特征在于,所述台阶结构的厚度为6-10nm。
9.根据权利要求1所述一种晶体管结构,其特征在于,所述栅极结构为堆叠栅结构。
10.根据权利要求1所述一种晶体管结构,其特征在于,所述基底为硅基底。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的