[实用新型]一种高精度晶振测试电路有效

专利信息
申请号: 202020281010.8 申请日: 2020-03-09
公开(公告)号: CN211785919U 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 夏涛 申请(专利权)人: 深圳市奥宇达电子有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 代理人: 梁炎芳;谭雪婷
地址: 518000 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 高精度 测试 电路
【说明书】:

实用新型公开了一种高精度晶振测试电路,包括用于待检测的测试晶振、用于引起振荡信号的场效应晶体管、用于将振荡信号进行放大的第一三极管、用于将振荡电流进行放大的倍压整流电路、用于导通振荡信号的第二三极管、用于检验提示测试晶振正常与否的发光二极管、测试开关及电源,发光二极管的正极依次经过第一电阻、测试开关并与电源连接。本实用新型将测试晶振的两端接入电路后,电路振荡,振荡信号通过第一三极管的发射极放大后输出,再经过倍压整流电路的电流放大作用,为第二三极管提供偏置电流,第二三极管导通,发光二极管亮起,以提示测试晶振合格;采用第一三极管及倍压整流电路将振荡信号两级放大的方式,可提高晶振测试的精确度。

技术领域

本实用新型涉及晶振测试电路领域,尤其涉及的是一种高精度晶振测试电路。

背景技术

现有技术中,晶振(石英晶体振荡器)是高精度和高稳定度的振荡器,被广泛应用于彩电、计算机、遥控器等各类振荡电路中,以及通信系统中用于频率发生器、为数据处理设备产生时钟信号和为特定系统提供基准信号。晶振往往与其他电子元件相互配合使用,在生产过程中,厂家会对晶振进行检验测试,以判断晶振的质量优劣。而现有的晶振测试设备,一般采用万用表进行检测,检测人员需要多次测试晶振的引脚电压进行判断,当大量的晶振需要检测时,由于检测人员的操作不规范,导致测试的精度降低,很多合格的晶振也被检测为坏品,影响晶振的生产合格率。

因此,现有技术存在缺陷,需要改进。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是:提供一种测试准确率、电路结构简单,可有效降低人工误判率的高精度晶振测试电路。

本实用新型的技术方案如下:一种高精度晶振测试电路,包括用于待检测的测试晶振、用于引起振荡信号的场效应晶体管、用于将振荡信号进行放大的第一三极管、用于将振荡电流进行放大的倍压整流电路、用于导通振荡信号的第二三极管、用于检验提示测试晶振正常与否的发光二极管、测试开关及电源,所述场效应晶体管的栅极经过第一电容与测试晶振的第一端连接,所述场效应晶体管的漏极分别与测试晶振的第二端、第一三极管的基极、第一三极管的集电极连接,所述场效应晶体管的源极与倍压整流电路的第一输入端连接,所述第一三极管的发射极与倍压整流电路的第二输入端连接,所述倍压整流电路的第一输出端与第二三极管的基极连接,所述倍压整流电路的第二输出端与第二三极管的发射极连接,所述第二三极管的集电极与发光二极管的负极连接,所述发光二极管的正极依次经过第一电阻、测试开关并与电源连接。

采用上述技术方案,所述的高精度晶振测试电路中,所述倍压整流电路包括第一二极管、第二二极管、第二电容、第三电容及第二电阻,所述第一三极管的发射极分别与第二电阻的第一端、第二电容的第一端连接,所述第二电阻的第二端分别与第一二极管的正极、第三电容的第一端、第二三极管的发射极连接,所述第二电容的第二端分别与第一二极管的负极、第二二极管的正极连接,所述第二二极管的负极分别与第三电容的第二端、第二三极管的基极连接。

采用上述各个技术方案,所述的高精度晶振测试电路中,所述场效应晶体管的漏极与第一三极管的集电极之间接有第三电阻。

采用上述各个技术方案,所述的高精度晶振测试电路中,所述场效应晶体管与第一三极管之间并联有第四电容。

采用上述各个技术方案,所述的高精度晶振测试电路中,所述电源为+6V电压。

采用上述各个技术方案,本实用新型通过场效应晶体管与测试晶振组成一个电容式三点振荡器,当测试晶振的两端接入电路后,电路被振荡,振荡信号通过第一三极管的发射极放大后输出,再经过倍压整流电路的电流放大作用,为第二三极管提供偏置电流,第二三极管导通,发光二极管亮起,以提示该测试晶振合格;采用第一三极管及倍压整流电路将振荡信号两级放大的方式,可提高晶振测试的精确度;采用测试电路代替万用表进行检测的方式,还可有效提高晶振的检测效率。

附图说明

图1为本实用新型的电路图。

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