[实用新型]一种低功耗RC时间常数校正电路有效
申请号: | 202020284535.7 | 申请日: | 2020-03-10 |
公开(公告)号: | CN211239829U | 公开(公告)日: | 2020-08-11 |
发明(设计)人: | 罗志国;李俊;夏建宝;高龙辉;危长明;陈良生 | 申请(专利权)人: | 上海胤祺集成电路有限公司 |
主分类号: | H03M1/10 | 分类号: | H03M1/10 |
代理公司: | 上海海贝律师事务所 31301 | 代理人: | 范海燕 |
地址: | 201203 上海市浦东新区中国(*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 功耗 rc 时间常数 校正 电路 | ||
本实用新型公开了一种低功耗RC时间常数校正电路,该电路包括:电流源I,其一端接地,另一端接至开关S2的一端;开关S2,其一端接电流源I,另一端接开关S1的一端、P1管的栅端和漏端、P2管的栅端、P3管的栅端,S2的开与关受RN信号控制;MOS管P2,其源端接电源VDD;其栅端与开关S1的一端、开关S2的一端、P1管的栅端和漏端、P3管的栅端相连,其漏端与开关S3的一端相连。本实用新型,通过将系统主时钟CLK进行降频处理,有效地的降低了对比较器Comp的带宽要求;最终,完成校正后,通过将SAR logic产生的复位信号反馈到Nand2、S1、S2及Comp模块,实现了整体校正电路的关闭处理,实现了低功耗和避免校正电路对芯片的影响。
技术领域
本实用新型涉及RC时间常数校正电路技术领域,具体为一种低功耗RC时间常数校正电路。
背景技术
在高速连续时间型sigma-delta ADC等需要用到RC滤波器的芯片设计中,用于构成滤波器的电阻R和电容C由于受工艺偏差等影响,其RC常数有±30%~±40%的偏差,导致芯片系统性能下降甚至不能正常工作。因此,通常在芯片中需要集成RC时间常数校正电路。
在传统的RC时间常数校正电路实现时,采用如图1所示方式,其RC充放电支路的时钟为系统主时钟CLK,其频率为Fs。通常,在高速芯片设计中,系统时钟CLK的频率Fs很高,导致校正电路中的比较器带宽要求非常高,以满足半个系统时钟周期Ts/2内完成比较并不出现误码的需求。这对比较器的设计带来极大的挑战。
另一方面,传统的RC时间常数校正电路在完成校正工作后,其电流支路P1、P2、P3,比较器comp模块,及SAR logic模块仍然处于工作状态。这将导致一方面,校正电路输出信号DN:0可能出现误码;另一方面,校正电路一直消耗电流,不适合低功耗应用领域。
为了克服这些缺陷,本发明提供一种改进的用于RC时间常数校正的电路,在满足精准校正RC时间常数的要求下,同时降低了电路的设计难度并降低了芯片的功耗。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种低功耗RC时间常数校正电路,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种低功耗RC时间常数校正电路,该电路包括:
电流源I,其一端接地,另一端接至开关S2的一端;
开关S2,其一端接电流源I,另一端接开关S1的一端、P1管的栅端和漏端、P2管的栅端、P3管的栅端,S2的开与关受RN信号控制;
开关S1,其一端接电源VDD,另一端接开关S2的一端、P1管的栅端和漏端、P2管的栅端、P3管的栅端,S1的开与关受RP信号控制;
MOS管P1、其源端接电源VDD,漏端和栅端短接后与开关S1的一端、开关S2的一端、P2管的栅端、P3管的栅端相连;
MOS管P2,其源端接电源VDD;其栅端与开关S1的一端、开关S2的一端、P1管的栅端和漏端、P3管的栅端相连,其漏端与开关S3的一端相连;
MOS管P3,其源端接电源VDD,其栅端与开关S1的一端、开关S2的一端、P1管的栅端和漏端、P2管的栅端相连,其漏端与电阻Rm一端相连;
开关S3,其一端接P2管的漏端,另一端接开关S4的一端、可变电容C的一端、比较器Comp的正输入端,S3的开与关受CLKN信号控制;
开关S4,其一端接地GND,另一端接开关S3的一端、可变电容C的一端、比较器Comp的正输入端,S4的开与关受CLKP信号控制;
可变电容阵列C,其一端接地GND,另一端接开关S3的一端、开关S4的一端、比较器的正输入端,可变电容C的值受SAR logic模块的输出信号DN:0控制;
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