[实用新型]用于X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置有效

专利信息
申请号: 202020301420.4 申请日: 2020-03-10
公开(公告)号: CN211718165U 公开(公告)日: 2020-10-20
发明(设计)人: 马兵兵;徐阳;李科建;廖俊梅;卜云磊 申请(专利权)人: 重庆岩土工程检测中心有限公司
主分类号: G01N23/2202 分类号: G01N23/2202
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 400700 重*** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 用于 射线 荧光 光谱 测定 杂质 元素 熔融 装置
【权利要求书】:

1.一种用于X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置,包括XRF高频熔样炉(1),所述XRF高频熔样炉(1)设置有熔融区(11),所述熔融区(11)内设置有多个呈矩形排列的熔融炉(111),其特征在于:所述熔融区(11)内设置有隔热机构,所述隔热机构包括隔热板(3),所述隔热板(3)沿XRF高频熔样炉(1)长度方向与一排熔融炉(111)位于同一竖平面,所述隔热板(3)在竖直方向上横置于熔融炉(111)上侧,所述隔热板(3)的长度不低于一排所述熔融炉(111)的长度;所述隔热板(3)背离显示屏(12)的一端侧设置有两根滑动杆(4),两根所述滑动杆(4)均布于隔热板(3)宽度方向的两端,两根所述滑动杆(4)一端固定于隔热板(3),两根所述滑动杆(4)另一端贯穿并滑动连接于XRF高频熔样炉(1)的箱壁(14),所述箱壁(14)与熔融炉(111)的距离不低于隔热板(3)的长度,所述滑动杆(4)远离XRF高频熔样炉(1)的一端设置有推拉杆(5),所述推拉杆(5)的两端分别固定于两根滑动杆(4)。

2.根据权利要求1所述的熔融制样装置,其特征在于:两根所述滑动杆(4)为中空结构,所述隔热板(3)内设置有水道(31),所述水道(31)连通两根所述滑动杆(4),其中一根所述滑动杆(4)连通水源。

3.根据权利要求2所述的熔融制样装置,其特征在于:所述隔热板(3)沿其厚度方向靠近熔融炉(111)的一侧固定有隔热层(32)。

4.根据权利要求1所述的熔融制样装置,其特征在于:所述箱壁(14)开设有滑移孔(141),所述滑移孔(141)沿XRF高频熔样炉(1)的宽度方向延伸,所述滑移孔(141)在竖直方向上的两孔壁均内凹形成有滑移槽(142),所述滑移孔(141)内设置有两端分别滑移连接于两个所述滑移槽(142)的滑移板(143),两根所述滑动杆(4)滑动连接于滑移板(143)。

5.根据权利要求4所述的熔融制样装置,其特征在于:所述滑移板(143)开设有转动孔(144),所述滑移板(143)上多个轴线与其长度方向平行的销孔一(1431),所述转动孔(144)内凹成型有转动槽(145),所述转动槽(145)的纵剖面呈圆形,所述转动槽(145)内适配有转动盘(146),所述转动盘(146)上开设有多个与销孔一(1431)同轴的销孔二(1461),所述销孔一(1431)与销孔二(1461)内同时设置有销钉(147)。

6.根据权利要求5所述的熔融制样装置,其特征在于:所述滑移板(143)沿其滑移方向的两侧均设置有折叠板(6),所述折叠板(6)的两端分别固定于滑移板(143)和滑移孔(141)的孔壁。

7.根据权利要求1所述的熔融制样装置,其特征在于:所述推拉杆(5)远离箱壁(14)的一侧设置有呈T状的横截面呈圆形的螺杆(7),所述螺杆(7)沿滑动杆(4)的长度方向设置,所述推拉杆(5)内成型有梯形孔(51),所述螺杆(7)的大头端螺纹连接于梯形孔(51),所述螺杆(7)远离推拉杆(5)一端设置有电机(8),所述电机(8)的输出轴同轴连接于螺杆(7);所述滑动杆(4)靠近地面的一侧横置有多根与其同向的滑轨(81),所述滑轨(81)径向截面呈H形,所述滑轨(81)的一端固定于转动盘(146),多根所述滑轨(81)同时滑动连接有滑座(82),所述电机(8)的底座固定于滑座(82)。

8.根据权利要求1所述的熔融制样装置,其特征在于:所述XRF高频熔样炉(1)竖向设置有排气管(9),所述排气管(9)连通熔融区(11)。

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