[实用新型]用于X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置

说明书

本实用新型涉及一种用于X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置，涉及熔融制样装置，旨在解决人工取出铂金坩埚时可能被灼伤的问题，其包括XRF高频熔样炉，所述XRF高频熔样炉设置有熔融区，所述熔融区内设置有多个呈矩形排列的熔融炉，所述熔融区内设置有隔热机构，所述隔热机构包括隔热板，所述隔热板在竖直方向上横置于熔融炉上侧；所述隔热板背离显示屏的一端侧均置有两根滑动杆，两根所述滑动杆一端固定于隔热板，其另一端贯穿并滑动连接于XRF高频熔样炉的箱壁，所述滑动杆远离XRF高频熔样炉的一端设置有推拉杆，所述推拉杆的两端分别固定于两根滑动杆。本实用新型可降低工作人员在取出铂金坩埚时被灼伤的几率，使用效果相对更佳。

技术领域

本实用新型涉及熔融制样装置，尤其是涉及一种用于X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置。

背景技术

X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测，根据不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性的原理，探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量，从而通过仪器软件转换出样品中各种元素的种类及含量。熔融法是把氧化物粉末样品与熔剂比例混合后，利用熔融制样装置在高温下共熔，形成均匀的可用XRF探测的玻璃体的制样方法。

参照图1，现有的一种熔融制样装置，包括呈长方体状的XRF高频熔样炉1和用于控制XRF高频熔样炉1内熔炼温度的温控箱2，在XRF高频熔样炉1内设置有熔融区11和用于及时显示熔融区11熔融情况的显示屏12，熔融区11包括多个矩形排列于同一水平面的熔融炉111，例如：4个熔融炉111呈矩形排列；在熔融区11的上方设置有盖板13，以便在熔融时罩护熔融区11。

熔融时，先将均匀混合有熔剂的铂金坩埚一一对应放入到熔融炉111内，然后将盖板13盖好后，开启并通过温控箱2并通过显示屏12设定熔融时间，开始熔融，直至熔剂熔结成玻璃熔片后将铂金坩埚取出即可。但当在取出任一铂金坩埚时，由于多个熔融炉111均带有余温，相邻的熔融炉111给人以灼伤感，导致使用效果不佳，因此本实用新型提供一种新的技术方案。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的是提供一种用于X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置，其可降低工作人员在取出铂金坩埚时被灼伤的几率，使用效果相对更佳。

本实用新型的上述实用新型目的是通过以下技术方案得以实现的：一种用于X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置，包括XRF高频熔样炉，所述XRF高频熔样炉设置有熔融区，所述熔融区内设置有多个呈矩形排列的熔融炉，所述熔融区内设置有隔热机构，所述隔热机构包括隔热板，所述隔热板沿XRF高频熔样炉长度方向与一排熔融炉位于同一竖平面，所述隔热板在竖直方向上横置于熔融炉上侧，所述隔热板的长度不低于一排所述熔融炉的长度；所述隔热板背离显示屏的一端侧设置有两根滑动杆，两根所述滑动杆均布于隔热板宽度方向的两端，两根所述滑动杆一端固定于隔热板，两根所述滑动杆另一端贯穿并滑动连接于XRF高频熔样炉的箱壁，所述箱壁与熔融炉的距离不低于隔热板的长度，所述滑动杆远离XRF高频熔样炉的一端设置有推拉杆，所述推拉杆的两端分别固定于两根滑动杆。

通过采用上述技术方案，当熔融结束需要将铂金坩埚取出时，先通过手持推拉杆将隔热板推进，使其位于与需要被取出的铂金坩埚相邻的一排熔融炉上侧，通过隔热板将该相邻的一排熔融炉可能带有的余温相对隔离，从而相对降低工作人员在取出铂金坩埚时，被相邻的一排熔融炉灼伤的几率，以相对保护工作人员的安全，使用效果相对更佳。

本实用新型在一较佳示例中可以进一步配置为：两根所述滑动杆为中空结构，所述隔热板内设置有水道，所述水道连通两根所述滑动杆，其中一根所述滑动杆连通水源。