[实用新型]一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置有效

专利信息
申请号: 202020330898.X 申请日: 2020-03-17
公开(公告)号: CN211348876U 公开(公告)日: 2020-08-25
发明(设计)人: 杨博;宋伟红;高大华 申请(专利权)人: 四川中科朗星光电科技有限公司
主分类号: G02B27/30 分类号: G02B27/30;G02B27/34
代理公司: 成都熠邦鼎立专利代理有限公司 51263 代理人: 田甜
地址: 610000 四川省成都*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 探测器 激光 发射 光轴 校正 装置
【权利要求书】:

1.一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置,其特征在于,包括光斑探测模块和目标观测模块,

所述光斑探测模块包括依次同轴设置光源(1)、聚光镜(2)、分划板(5)、准直物镜(6),所述光斑探测模块还包括将分划板(5)的部分光线汇聚至光斑探测器(9)上的分光器件;

所述目标观测模块包括激光器(11)、将激光器(11)部分光源分至准直物镜(6)光源路线中的第二分光镜(7)和依次与准直物镜(6)同轴设置的第二成像物镜(8)、物体探测器(10),所述激光器(11)安装在 位置角度调整装置上。

2.根据权利要求1所述的一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置,其特征在于,所述分光器件包括置于聚光镜(2)和分划板(5)之间的第一分光镜(3)、将第一分光镜(3)分出的光线汇聚到光斑探测器(9)的第一成像物镜(4)。

3.根据权利要求2所述的一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置,其特征在于,所述第一分光镜(3)为半反半透镜。

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