[实用新型]一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置有效

专利信息
申请号: 202020330898.X 申请日: 2020-03-17
公开(公告)号: CN211348876U 公开(公告)日: 2020-08-25
发明(设计)人: 杨博;宋伟红;高大华 申请(专利权)人: 四川中科朗星光电科技有限公司
主分类号: G02B27/30 分类号: G02B27/30;G02B27/34
代理公司: 成都熠邦鼎立专利代理有限公司 51263 代理人: 田甜
地址: 610000 四川省成都*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 探测器 激光 发射 光轴 校正 装置
【说明书】:

实用新型公开了一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置,包括光斑探测模块和目标观测模块,光斑探测模块包括依次同轴设置光源、聚光镜、分划板、准直物镜,光斑探测模块还包括将分划板的部分光线汇聚至光斑探测器上的分光器件,光斑探测器的中心光轴与聚光镜的轴垂直;目标观测模块包括激光器、将激光器部分光源分至准直物镜光源路线中的第二分光镜和依次与准直物镜同轴设置的第二成像物镜、物体探测器,所述激光器安装在位置角度调整装置上。该装置基于双探测器,分划板作为基准,通过调整激光器的光源在光斑探测器上的位置与光源在光斑探测器上的位置重合,即可实现同轴矫正,整个装置采用光学元件构成,其成本低,可调精度高。

技术领域

本实用新型涉及光电系统中的精密光轴调节技术领域,更具体的说是涉及一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置。

背景技术

在当前光电技术领域中,需要对观测目标进行激光照明和激光干扰,这需要将激光发射光轴校正到被观测目标同轴,在射击等场合以提高对准精度。现有的同轴检测一般基于图像识别,譬如申请号为201621252195.X的“一种新型测距瞄准镜光轴校正仪”,其包括球面反射镜、光管组件、靶标、CCD相机等,球面反射镜将被校产品发射的光聚到靶面上,光管组件可移动,CCD相机接收靶标十字线的像,将十字线的像调至CCD图像采集窗口的中央,实现矫正。采用该方式,其结构复杂,且基于CCD相机进行矫正,其成本高。

实用新型内容

本实用新型为了解决上述技术问题提供一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置。

本实用新型通过下述技术方案实现:

一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置,包括光斑探测模块和目标观测模块,

所述光斑探测模块包括依次同轴设置光源、聚光镜、分划板、准直物镜,所述光斑探测模块还包括将分划板的部分光线汇聚至光斑探测器上的分光器件;

所述目标观测模块包括激光器、将激光器部分光源分至准直物镜光源路线中的第二分光镜和依次与准直物镜同轴设置的第二成像物镜、物体探测器,所述激光器安装在位置角度调整装置上。

本方案基于双探测器,分划板作为基准目标,光源、聚光镜、分划板、准直物镜、第二成像物镜、物体探测器同轴,通过调整激光器的光源在光斑探测器上的位置与光源在光斑探测器上的位置重合,即可实现同轴矫正,即激光器指向位置为目标位置,整个装置采用光学元件构成,其成本低,可调精度高。

本实用新型与现有技术相比,具有如下的优点和有益效果:

1、本实用新型基于双探测器,分划板作为基准,通过调整激光器的光源在光斑探测器上的位置与光源在光斑探测器上的位置重合,即可实现同轴矫正,整个装置采用光学元件构成,其成本低,可调精度高。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本实用新型实施例的进一步理解,构成本申请的一部分,并不构成对本实用新型实施例的限定。

图1为本实用新型的结构示意图。

图中附图标记的名称分别为:

1、光源;2、聚光镜;3、第一分光镜;4、第一成像物镜;5、分划板;6、准直物镜;7、第二分光镜;8、第二成像物镜;9、光斑探测器;10、物体探测器;11、激光器。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白,下面结合实施例和附图,对本实用新型作进一步的详细说明,本实用新型的示意性实施方式及其说明仅用于解释本实用新型,并不作为对本实用新型的限定。

实施例1

如图1所示的一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置,包括光斑探测模块和目标观测模块。

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