[实用新型]一种硅粉激光粒度分析仪

权利要求书

1.一种硅粉激光粒度分析仪，包括依次连通的第一导管(1)和第二导管(2)，其特征在于，所述第一导管(1)内设有激光产生器(3)和聚焦镜(4)，且激光产生器(3)与第一导管(1)的左端固定连接设置，所述聚焦镜(4)的顶部与底部均固定连接有垫块(5)，所述第一导管(1)的侧壁开设有条形孔，其中一个所述垫块(5)的顶部固定连接有滑块(6)，所述第一导管(1)的外壁开设有与滑块(6)相匹配的调节机构，所述第二导管(2)的上下两端内设有挡光板(7)，且两个挡光板(7)相背离一侧的侧壁均固定连接有转轴(8)，所述转轴(8)的两端分别与第二导管(2)的两侧内壁转动连接，且转轴(8)的一端贯穿第二导管(2)的内壁并向外延伸，所述第二导管(2)的外壁对称设有两个与转轴(8)相匹配的限位机构。

2.根据权利要求1所述的一种硅粉激光粒度分析仪，其特征在于，所述调节机构包括驱动电机(9)、螺纹杆(10)所述螺纹杆(10)的两端均通过轴承转动连接有定位块(12)，且定位块(12)的底部与第一导管(1)的外壁固定连接设置，所述滑块(6)与螺纹杆(10)螺纹连接，且滑块(6)的顶部固定连接有标头(13)，所述螺纹杆(10)的一端贯穿定位块(12)的侧壁并向外延伸，所述驱动电机(9)与螺纹杆(10)延伸至外部的一端固定连接设置。

3.根据权利要求1所述的一种硅粉激光粒度分析仪，其特征在于，每个所述限位机构均包括齿圈(14)、齿轮(15)和两个磁石(16)，所述齿轮(15)与转轴(8)延伸至外部的一端固定连接活动套设，两个磁石(16)的侧壁与齿轮(15)的内壁固定连接，且两个磁石(16)呈对称设置，所述转轴(8)延伸之外部的侧壁对称开设有与磁石(16)相匹配的限位槽，且磁石(16)与限位槽相互吸附设置，所述齿圈(14)与齿轮(15)相互啮合，且齿圈(14)与第二导管(2)的外壁固定连接设置。

4.根据权利要求3所述的一种硅粉激光粒度分析仪，其特征在于，所述齿轮(15)相背离第二导管(2)的一端对称固定连接有两个拉块(19)。

5.根据权利要求3所述的一种硅粉激光粒度分析仪，其特征在于，所述齿轮(15)相背离第二导管(2)一侧的侧壁还固定连接有指示杆(17)。

6.根据权利要求2所述的一种硅粉激光粒度分析仪，其特征在于，两个所述定位块(12)之间设有刻度尺(11)，所述刻度尺(11)的两端分别与两个定位块(12)的侧壁固定连接，且刻度尺(11)与标头(13)相匹配设置。

7.根据权利要求1所述的一种硅粉激光粒度分析仪，其特征在于，所述第一导管(1)的外壁固定连接有透明防护罩(18)，且透明防护罩(18)与两个定位块(12)和驱动电机(9)相对应设置。

8.根据权利要求1所述的一种硅粉激光粒度分析仪，其特征在于，两个所述第二导管(2)的两端均开设有圆弧面。

9.根据权利要求1所述的一种硅粉激光粒度分析仪，其特征在于，所述第一导管(1)和第二导管(2)呈垂直设置。