[实用新型]一种硅粉激光粒度分析仪有效

专利信息
申请号: 202020368545.9 申请日: 2020-03-20
公开(公告)号: CN211740978U 公开(公告)日: 2020-10-23
发明(设计)人: 朱广彬 申请(专利权)人: 徐州凌云硅业股份有限公司
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 南京苏博知识产权代理事务所(普通合伙) 32411 代理人: 伍兵
地址: 221600 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 激光 粒度 分析
【说明书】:

实用新型涉及粒度分析仪技术领域,公开了一种硅粉激光粒度分析仪,包括依次连通的第一导管和第二导管,第一导管内设有激光产生器和聚焦镜,且激光产生器与第一导管的左端固定连接设置,聚焦镜的顶部与底部均固定连接有垫块,第一导管的侧壁开设有条形孔,其中一个垫块的顶部固定连接有滑块,第一导管的外壁开设有与滑块相匹配的调节机构,第二导管的上下两端内设有挡光板,且两个挡光板相背离一侧的侧壁均固定连接有转轴,转轴的两端分别与第二导管的两侧内壁转动连接。本实用新型能够对激光照射光束的直径和角度进行调节,从而适应不同情况下进行使用,提高了其适用范围。

技术领域

本实用新型涉及粒度分析仪技术领域,尤其涉及一种硅粉激光粒度分析仪。

背景技术

激光粒度分析仪是一种测量颗粒大小的光学仪器,由于光在传播过程中,如果遇到颗粒物,会有一部分光偏移原来的传播方向,使光产生偏移,激光粒度分析仪依据其偏移量来确定颗粒的尺寸。

现有技术中,激光粒度分析仪照射的光束大小和角度时固定的,不便于进行调节,从而在对不同半径范围的硅粉颗粒检测容易造成误差,从而不便于人们的使用。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中激光粒度分析仪照射的光束大小和角度时固定的,不便于进行调节,从而在对不同半径范围的硅粉颗粒检测容易造成误差的问题,而提出的一种硅粉激光粒度分析仪。

为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:

一种硅粉激光粒度分析仪,包括依次连通的第一导管和第二导管,所述第一导管内设有激光产生器和聚焦镜,且激光产生器与第一导管的左端固定连接设置,所述聚焦镜的顶部与底部均固定连接有垫块,所述第一导管的侧壁开设有条形孔,其中一个所述垫块的顶部固定连接有滑块,所述第一导管的外壁开设有与滑块相匹配的调节机构,所述第二导管的上下两端内设有挡光板,且两个挡光板相背离一侧的侧壁均固定连接有转轴,所述转轴的两端分别与第二导管的两侧内壁转动连接,且转轴的一端贯穿第二导管的内壁并向外延伸,所述第二导管的外壁对称设有两个与转轴相匹配的限位机构。

优选的,所述调节机构包括驱动电机、螺纹杆所述螺纹杆的两端均通过轴承转动连接有定位块,且定位块的底部与第一导管的外壁固定连接设置,所述滑块与螺纹杆螺纹连接,且滑块的顶部固定连接有标头,所述螺纹杆的一端贯穿定位块的侧壁并向外延伸,所述驱动电机与螺纹杆延伸至外部的一端固定连接设置。

优选的,每个所述限位机构均包括齿圈、齿轮和两个磁石,所述齿轮与转轴延伸至外部的一端固定连接活动套设,两个磁石的侧壁与齿轮的内壁固定连接,且两个磁石呈对称设置,所述转轴延伸之外部的侧壁对称开设有与磁石相匹配的限位槽,且磁石与限位槽相互吸附设置,所述齿圈与齿轮相互啮合,且齿圈与第二导管的外壁固定连接设置。

优选的,所述齿轮相背离第二导管的一端对称固定连接有两个拉块。

优选的,所述齿轮相背离第二导管一侧的侧壁还固定连接有指示杆。

优选的,两个所述定位块之间设有刻度尺,所述刻度尺的两端分别与两个定位块的侧壁固定连接,且刻度尺与标头相匹配设置。

优选的,所述第一导管的外壁固定连接有透明防护罩,且透明防护罩与两个定位块和驱动电机相对应设置。

优选的,两个所述第二导管的两端均开设有圆弧面。

优选的,所述第一导管和第二导管呈垂直设置。

与现有技术相比,本实用新型提供了一种硅粉激光粒度分析仪,具备以下有益效果:

1、该硅粉激光粒度分析仪,通过设有的驱动电机,驱动电机的输出端旋转带动螺纹杆旋转,由于垫块和聚焦镜对滑块的位置进行了限定,从而通过螺纹杆旋转能够带动聚焦镜移动,从而对聚焦镜与激光产生器之间距离进行改变,从而改变激光束的半径,便于不同情况下使用。

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