[实用新型]一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置

权利要求书

1.一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置，包括机体(1)，所述机体(1)的一侧开设有用以熔样的熔样室(11)，所述熔样室(11)底壁上设置若干放置台(112)，所述放置台(112)内部开设有放置槽(1121)，所述放置槽(1121)内放置有用以熔样的坩埚(2)，且所述放置槽(1121)内设置有用以对坩埚(2)进行加热高频加热线圈(1123)，其特征在于：所述机体(1)上设置有用以带走熔样室(11)热量的换热器(3)，所述换热器(3)内流通有制冷剂。

2.根据权利要求1所述的一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置，其特征在于：所述换热器(3)包括设置在熔样室(11)内的若干冷却管(31)，所述冷却管(31)沿熔样室(11)的侧壁排布为弓形，所述冷却管(31)的一端伸出机体(1)的侧壁并连通有进水管(33)，所述冷却管(31)的另一端伸出机体(1)的侧壁连通有出水管(34)。

3.根据权利要求2所述的一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置，其特征在于：所述制冷剂为冷却水，所述机体(1)的一侧设置有供水组件(4)，所述供水组件(4)包括设置机体(1)一侧的水箱(41)，所述进水管(33)和出水管(34)皆与水箱(41)的内部相互连通，且在进水管(33)与水箱(41)之间设置有提供动力的水冷泵(42)。

4.根据权利要求3所述的一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置，其特征在于：所述水箱(41)的外侧设置有保护箱(43)，且所述水冷泵(42)设置在保护箱(43)内，所述保护箱(43)的侧壁上设置有水温显示屏(431)和水位显示器(432)。

5.根据权利要求4所述的一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置，其特征在于：所述冷却管(31)的材质为铜管。

6.根据权利要求5所述的一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置，其特征在于：所述冷却管(31)的周面上加设有若干翅片(32)，且冷却管(31)相邻上下两排之间的翅片(32)等间距交错设置。

7.根据权利要求6所述的一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置，其特征在于：所述机体(1)内设置有对熔样室(11)进行吹风的若干吹风机(6)，所述吹风机(6)位于熔样室(11)底壁的下侧设置，且在熔样室(11)的底壁上均匀开设有若干风入口(61)。

8.根据权利要求7所述的一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置，其特征在于：所述机体(1)位于熔样室(11)的侧壁上设置有与吹风机(6)相互配合的吸风管(7)，所述吸风管(7)的一端通过吸风机(8)与机体(1)相互连通连接，所述吸风管(7)的另一端与外界相互连通。

9.根据权利要求8所述的一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置，其特征在于：所述吸风管(7)为波纹管。