[实用新型]一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置有效
申请号: | 202020382176.9 | 申请日: | 2020-03-23 |
公开(公告)号: | CN211785233U | 公开(公告)日: | 2020-10-27 |
发明(设计)人: | 尹戈;王清乐;唐开尧;罗莹;曾明龙 | 申请(专利权)人: | 重庆地之源地质工程检测有限公司 |
主分类号: | G01N23/2202 | 分类号: | G01N23/2202;G01N23/223;G01N1/44;G01N1/42 |
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地址: | 400050 重庆市九*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用以 射线 荧光 光谱 测定 杂质 元素 熔融 装置 | ||
本实用新型涉及一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置,其包括机体,所述机体的一侧开设有用以熔样的熔样室,所述熔样室底壁上设置若干放置台,所述放置台内部开设有放置槽,所述放置槽内放置有用以熔样的坩埚,且所述放置槽内设置有用以对坩埚进行加热高频加热线圈,所述机体上设置有用以带走熔样室热量的换热器,所述换热器内流通有制冷剂。本实用新型的优点是:可提高坩埚的冷却速率,进而提升制样效率。
技术领域
本实用新型涉及检测设备的技术领域,尤其是涉及一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置。
背景技术
X射线荧光光谱分析技术目前已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用,是各种无机材料中主组分分析最重要的技术手段之一,用以对材料中的各种成分进行快速定性和定量分析。现有的用X射线荧光光谱分析检测杂质元素时,需要对待检测杂质进行高温熔融,使待检测杂质成为一种非晶态共熔体后制成一定大小的样片,从而消除待检测杂质的矿物效应和粒度效应。
如申请号为CN200920078561.8的中国实用新型专利公开了一种智能高频埚模分离熔样系统,包括坩埚、坩埚辅助装置、旋转筒和旋转电机,旋转电机一端设有皮带轮,并通过皮带与旋转筒相连,坩埚辅助装置设置于旋转筒上端,坩埚设置于在坩埚辅助装置的上端中心,所述智能高频埚模分离熔样系统还设有成型模,成型模设置于旋转筒的上端。
上述中的现有技术方案存在以下缺陷:上述熔样系统中仅仅通过自然冷却的方式进行坩埚和成型模的降温,使得熔融后的样品冷却速率较慢,进而使得样品的制样效率不高,亟待解决。
实用新型内容
针对现有技术存在的不足,本实用新型的目的之一是提供一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置,其优点是:可提高坩埚的冷却速率,进而提升制样效率。
本实用新型的上述实用新型目的是通过以下技术方案得以实现的:
一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置,包括机体,所述机体的一侧开设有用以熔样的熔样室,所述熔样室底壁上设置若干放置台,所述放置台内部开设有放置槽,所述放置槽内放置有用以熔样的坩埚,且所述放置槽内设置有用以对坩埚进行加热高频加热线圈,所述机体上设置有用以带走熔样室热量的换热器,所述换热器内流通有制冷剂。
通过采用上述技术方案,工作人员在使用该装置对杂质样品进行熔融制样时,可将杂质样品放置在坩埚,随后将坩埚放置在高频加热线圈的内部,随后运行高频加热线圈对坩埚进行加热,使得坩埚内的杂质样品在高温下进行熔融;熔融完成后,在对坩埚进行冷却时,可往换热器内通入制冷剂,通过制冷剂将熔样室内的热量带出熔样室,从而提高坩埚的冷却速率,进而提升制样效率。
本实用新型在一较佳示例中可以进一步配置为:所述换热器包括设置在熔样室内的若干冷却管,所述冷却管沿熔样室的侧壁排布为弓形,所述冷却管的一端伸出机体的侧壁并连通有进水管,所述冷却管的另一端伸出机体的侧壁连通有出水管。
通过采用上述技术方案,换热器工作时,工作人员可通过进水管往冷却管内通入制冷剂,制冷剂在冷却管内吸收熔样室内的热量后,通过冷却管的出水管流出冷却管;弓形设置的冷却管,延长冷却管在熔样室内的长度,增大冷却管与熔样室内热量气体的接触面积,从而使得制冷剂能够更快的将热量带出熔样室。
本实用新型在一较佳示例中可以进一步配置为:所述制冷剂为冷却水,所述机体的一侧设置有供水组件,所述供水组件包括设置机体一侧的水箱,所述进水管和出水管皆与水箱的内部相互连通,且在进水管与水箱之间设置有提供动力的水冷泵。
通过采用上述技术方案,冷却水容易获得,且水的比热容较大,能够带走更多的热量,水冷效果较好;供水组件工作时,工作人员只需开启水冷泵,水冷泵会将水箱中的冷却水通过进水管泵入冷却管中,冷却水经过冷却管后并通过出水管进入到水箱中,完成一次对熔样室的冷却循环;
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