[实用新型]粒度分析仪及系统

权利要求书

1.一种粒度分析仪，其特征在于，包括：

主机，用于测量样品粒径及样品的遮光比；

进样器，与所述主机的测试窗口连接，用于向所述主机中运送样品；

进样控制器，分别与所述主机及所述进样器电性连接，用于接收所述主机反馈回来的样品的遮光比，并根据所述遮光比控制所述进样器的工作强度。

2.根据权利要求1所述的粒度分析仪，其特征在于，所述进样器包括：

下料槽，用于盛放样品，与所述主机的测试窗口连接；

震动器，与所述下料槽连接，用于驱动所述下料槽振动，使下料槽内的样品落入到所述测试窗口中。

3.根据权利要求2所述的粒度分析仪，其特征在于，所述进样器还包括陀螺仪，所述陀螺仪设置于所述下料槽上，所述陀螺仪与所述进样控制器电性连接，用于检测下料槽的震动强度。

4.根据权利要求2所述的粒度分析仪，其特征在于，所述震动器为压电陶瓷。

5.一种粒度分析系统，其特征在于，包括：

根据权利要求1至4任一项所述的粒度分析仪；

终端，与所述粒度分析仪电性连接，用于显示及设置所述粒度分析仪的参数及信息。

6.根据权利要求5所述的粒度分析系统，其特征在于，还包括：

吸尘装置，分别与所述主机与所述进样器电性连接，用于清洁所述主机的测试窗口及所述进样器的下料槽；

吸尘装置控制盒，与所述吸尘装置电性连接，用于控制所述吸尘装置。

7.根据权利要求5所述的粒度分析系统，其特征在于，还包括：空气压缩机，所述空气压缩机的出口与所述主机的测试窗口或者所述进样器的下料槽连接，所述空气压缩机的出口处还设有过滤阀。