[实用新型]粒度分析仪及系统

说明书

本实用新型公开了一种粒度分析仪及系统，粒度分析仪包括：主机、进样器及进样控制器。主机用于测量样品粒径及样品的遮光比。进样器与主机的测试窗口连接，用于向主机中运送样品。进样控制器分别与主机及所述进样器电性连接，用于接收主机反馈回来的样品的遮光比，并根据遮光比控制进样器的工作强度。根据上述技术方案的粒度分析仪，以测得的样品的采样遮光比作为反馈值反馈给进样控制器，并根据采样遮光比与设定遮光比之间的差值来对进样器的工作强度进行实时调整，使进样器的进样更加稳定，且可以响应外部环境的变化。

技术领域

本实用新型涉及粒度分析设备领域，特别涉及一种粒度分析仪及粒度分析系统。

背景技术

粒度分析仪用于测量粒度的粒径分布，多数采用激光衍射的方法实现测量，样品的遮光比对数据的准确性有很大的影响，需要控制进样量在一个合适的值，以获得较好的测量效果。

现有的干法进样器往往采用振动的方式进样，进样器的控制采用开环控制，进样过程不稳定，导致测量结果会产生波动。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本实用新型提出一种粒度分析仪，采用粒度分析仪采集到的样品遮光比作为反馈行程闭环控制，可以使进样器稳定进样。

本实用新型还提出一种包括该粒度分析仪的粒度分析系统。

第一方面，根据本实用新型的实施例的粒度分析仪，包括：主机：用于测量样品粒径及样品的遮光比；进样器，与所述主机的测试窗口连接，用于向所述主机中运送样品；进样控制器，分别与所述主机及所述进样器电性连接，用于接收所述主机反馈回来的样品的遮光比，并根据所述遮光比控制所述进样器的工作强度。

根据本实用新型实施例的粒度分析仪，至少具有如下有益效果：主机、进样器和进样控制器形成闭合控制回路，根据样品遮光比的反馈值反馈给进样控制器，进样控制器再根据反馈的样品遮光比与预先设定的设定遮光比值比较的差值控制进样器的工作强度，进样器的工作强度又会影响落入测试窗口的样品量进而影响样品的遮光比。重复上述过程，最终会使样品遮光比逐渐与设定遮光比相等，使进样器可以稳定地为主机提供样品，使测量结果没有过大的波动。

根据本实用新型的一些实施例，所述进样器包括：下料槽，用于盛放样品，与所述主机的测试窗口连接；震动器，与所述下料槽连接，用于驱动所述下料槽振动，使下料槽内的样品落入到所述测试窗口中。

根据本实用新型的一些实施例，所述进样器还包括陀螺仪，所述陀螺仪设置于所述下料槽上，所述陀螺仪与所述进样控制器电性连接，用于检测下料槽的震动强度。

根据本实用新型的一些实施例，所述震动器为压电陶瓷。

第二方面，根据本实用新型实施例的粒度分析系统，包括：根据本实用新型第一方面的实施例的粒度分析仪；终端，与所述粒度分析仪电性连接，用于显示及设置所述粒度分析仪的参数及信息。

根据本实用新型实施例的粒度分析系统，至少具有如下有益效果：具有本实用新型第一方面实施例的粒度分析仪，可以通过终端设定合适的遮光比，并获得较为准确的样品的粒径分析结果。

根据本实用新型的一些实施例，还包括：吸尘装置，分别与所述主机与所述进样器电性连接，用于清洁所述主机的测试窗口及所述进样器的下料槽；吸尘装置控制盒，与所述吸尘装置电性连接，用于控制所述吸尘装置。

根据本实用新型的一些实施例，还包括：空气压缩机，所述空气压缩机的出口与所述主机的测试窗口或者所述进样器的下料槽连接，所述空气压缩机的出口处还设有过滤阀。

本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。

附图说明