[实用新型]一种异物检测装置有效

专利信息
申请号: 202020447013.4 申请日: 2020-03-31
公开(公告)号: CN211905143U 公开(公告)日: 2020-11-10
发明(设计)人: 安宁 申请(专利权)人: 上海和辉光电股份有限公司
主分类号: G01N21/958 分类号: G01N21/958;G01D21/02
代理公司: 上海隆天律师事务所 31282 代理人: 朱俊跃;钟宗
地址: 201506 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 异物 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种异物检测装置,适用于检测玻璃基板上的异物,其特征在于,包括向所述玻璃基板上发射光的光源、位于所述玻璃基板和光源之间的格栅和拍摄被所述光源的光透过格栅照射后的所述玻璃基板的照片的相机。

2.根据权利要求1所述的异物检测装置,其特征在于:还包括控制器,所述控制器分别与所述光源、格栅、相机相连。

3.根据权利要求1所述的异物检测装置,其特征在于:所述光源为发射白光的光源。

4.根据权利要求1所述的异物检测装置,其特征在于:所述光源发射光的方向垂直于所述玻璃基板。

5.根据权利要求1所述的异物检测装置,其特征在于:所述格栅包括K根横栅条和M根竖栅条,所述横栅条和竖栅条相互垂直,所述K≥2,所述M≥2。

6.根据权利要求5所述的异物检测装置,其特征在于:相邻2根所述横栅条之间的间距相等,相邻2根所述竖栅条之间的间距相等。

7.根据权利要求6所述的异物检测装置,其特征在于:相邻2根所述横栅条之间的间距与相邻2根所述竖栅条之间的间距相等。

8.根据权利要求1所述的异物检测装置,其特征在于:所述格栅与所述玻璃基板相互平行。

9.根据权利要求1所述的异物检测装置,其特征在于:所述相机为面阵相机。

10.根据权利要求1所述的异物检测装置,其特征在于:所述玻璃基板为切割后、贴附支撑膜后或贴附偏光片后的玻璃基板。

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