[实用新型]一种异物检测装置有效

专利信息
申请号: 202020447013.4 申请日: 2020-03-31
公开(公告)号: CN211905143U 公开(公告)日: 2020-11-10
发明(设计)人: 安宁 申请(专利权)人: 上海和辉光电股份有限公司
主分类号: G01N21/958 分类号: G01N21/958;G01D21/02
代理公司: 上海隆天律师事务所 31282 代理人: 朱俊跃;钟宗
地址: 201506 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 异物 检测 装置
【说明书】:

实用新型提供了一种异物检测装置,包括向所述玻璃基板上发射光的光源、位于所述玻璃基板和光源之间的格栅和拍摄被所述光源的光透过格栅照射后的所述玻璃基板的照片的相机。本实用新型可以方便快捷的对玻璃基板上异物类型的不良进行检测,来达到判断异物的有无和检出异物颗粒的大小的目的。

技术领域

本实用新型涉及显示设备检测领域,具体地说,涉及一种玻璃基板的异物检测装置。

背景技术

玻璃基板是平板显示(FlatPanel display,FPD)产业的关键基础材料之一,是构成液晶显示器件的一个基本部件。

现有的显示行业的玻璃基板在各站制程、运输等过程中,表面及膜层结构中会出现异物类不良,造成良率损失。

现有的制程中多用人工外观检查来进行异物类不良的判断,其弊端一是需求大量的人力,二是人员检测无法精确判断异物颗粒大小从而进行筛选。

为此,本领域的技术人员致力于开发一种方便快捷、效率高的玻璃基板异物检测装置。

实用新型内容

针对现有技术中的问题,本实用新型的目的在于提供一种异物检测装置,可以方便快捷的对玻璃基板上异物类型的不良进行检测,达到判断异物有无和检出异物颗粒大小的目的。

根据本实用新型提供了一种异物检测装置,适用于检测玻璃基板上的异物,包括向所述玻璃基板上发射光的光源、位于所述玻璃基板和光源之间的格栅和拍摄被所述光源的光透过格栅照射后的所述玻璃基板的照片的相机。

优选的:还包括控制器,所述控制器分别与所述光源、格栅、相机相连。

优选的:所述光源为发射白光的光源。

优选的:所述光源发射光的方向垂直于所述玻璃基板。

优选的:所述格栅包括K根横栅条和M根竖栅条,所述横栅条和竖栅条相互垂直,所述K≥2,所述M≥2。

优选的:相邻2根所述横栅条之间的间距相等,相邻2根所述竖栅条之间的间距相等。

优选的:相邻2根所述横栅条之间的间距与相邻2根所述竖栅条之间的间距相等。

优选的:所述格栅与所述玻璃基板相互平行。

优选的:所述相机为面阵相机。

优选的:所述玻璃基板为切割后、贴附支撑膜后或贴附偏光片后的玻璃基板。

本实用新型的一种异物检测装置,可以方便快捷的对玻璃基板上异物类型的不良进行检测,来达到判断异物的有无和检出异物颗粒的大小的目的。

附图说明

通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述,本实用新型的其它特征、目的和优点将会变得更明显。

图1是本实用新型的实施例的异物检测装置的玻璃基板的结构示意图;

图2是本实用新型的实施例的异物检测装置的光源和相机的结构示意图;

图3是本实用新型的实施例的异物检测装置的格栅、光源和相机的结构示意图;

图4是本实用新型的实施例的相机拍摄的照片的结构示意图。

附图标记

1 玻璃基板

2 异物

3 光源

4 格栅

5 相机

具体实施方式

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