[实用新型]可替换的模块化电性检测头及其测试针有效

专利信息
申请号: 202020538181.4 申请日: 2020-04-13
公开(公告)号: CN212459796U 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 郑文瑛;谢健堉;蔡伯晨 申请(专利权)人: 中国探针股份有限公司
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067
代理公司: 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 代理人: 李林
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 替换 模块化 检测 及其 测试
【权利要求书】:

1.一种可替换的模块化电性检测头,其特征在于:

该可替换的模块化电性检测头为中空帽型薄壳状导电结构,且具有一中空帽型鞘套部、一环形帽沿部及一形变回复缺口,该中空帽型鞘套部是管状结构,该环形帽沿部为供以电性接触的部分且呈片状结构,该环形帽沿部由该中空帽型鞘套部一端向外延伸形成且表面设有复数凸出结构,该形变回复缺口由该中空帽型鞘套部一端弯折经过该环形帽沿部并延伸至该环形帽沿部边缘;通过该形变回复缺口受力靠合与未受力复归的变化,能够用于该可替换的模块化电性检测头的替换与安装。

2.如权利要求1所述的可替换的模块化电性检测头,其特征在于,该可替换的模块化电性检测头经冲压制成,且该复数凸出结构的至少一侧边连接于该环形帽沿部,该环形帽沿部于对应各该凸出结构位置分别具有一开孔,该开孔与该凸出结构之间形成一变形气隙空间,以使该凸出结构具有受力形变的裕度。

3.如权利要求2所述的可替换的模块化电性检测头,其特征在于,各该凸出结构的二个该侧边与该环形帽沿部连接,且具有尖脊的三角状结构,该开孔位于该凸出结构底侧,而使该变形气隙空间为渐阔三角状。

4.如权利要求1所述的可替换的模块化电性检测头,其特征在于,该可替换的模块化电性检测头经冲压制成,且该复数凸出结构两两对称设置,各该凸出结构的一侧边连接于该环形帽沿部,该环形帽沿部于任二对称设置的该复数凸出结构之间的位置具有一开孔,而使该开孔与该凸出结构之间形成一变形气隙空间,且该变形气隙空间为渐阔三角状,以使该凸出结构具有受力形变的裕度。

5.如权利要求4所述的可替换的模块化电性检测头,其特征在于,任二对称设置的该复数凸出结构分别朝彼此倾斜靠拢,而使各该凸出结构为具有弧面或平面的倾斜结构。

6.如权利要求1至5中任一项所述的可替换的模块化电性检测头,其特征在于,该复数凸出结构呈单排或多排环状排列。

7.如权利要求1至5中任一项所述的可替换的模块化电性检测头,其特征在于,该可替换的模组化电性检测头供以装设于一测试针的一穿孔内,并在该形变回复缺口受力靠合而使该中空帽型鞘套部置于该穿孔,该形变回复缺口未受力复归的力量能够使该中空帽型鞘套部向外撑抵于该穿孔的内表面形成固定。

8.如权利要求7所述的可替换的模块化电性检测头,其特征在于,该复数凸出结构呈单排或多排环状排列。

9.一种具有可替换的模块化电性检测头的测试针,其特征在于,包含:

一测试针本体,其是中空状以容置探针,该测试针本体的一端具有一测试部,且该测试部开设有一穿孔;

一可替换的模块化电性检测头,组接于该穿孔,该可替换的模块化电性检测头为中空帽型薄壳状导电结构,且具有一中空帽型鞘套部、一环形帽沿部及一形变回复缺口,该中空帽型鞘套部是管状结构,该环形帽沿部为供以电性接触待测物的部分且呈片状结构,并该环形帽沿部由该中空帽型鞘套部一端向外延伸形成且表面设有复数凸出结构,该形变回复缺口由该中空帽型鞘套部一端弯折经过该环形帽沿部并延伸至该环形帽沿部边缘;其中当该形变回复缺口受力靠合而使该中空帽型鞘套部置于该测试针本体的该穿孔,该形变回复缺口未受力而复归的力量能够使该中空帽型鞘套部向外撑抵于该穿孔的内表面形成固定,该环形帽沿部则靠抵于该测试部;及

一绝缘件,其是管状结构,该绝缘件设于该穿孔内且位于该可替换的模块化电性检测头的中空区域,并探针的一端穿过该绝缘件。

10.如权利要求9所述的具有可替换的模块化电性检测头的测试针,其特征在于,该可替换的模块化电性检测头经冲压制成,且该复数凸出结构的至少一侧边连接于该环形帽沿部,该环形帽沿部对应各凸出结构位置分别具有一开孔,该开孔与该凸出结构之间形成一变形气隙空间,以使该凸出结构具有受力形变的裕度。

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