[实用新型]可替换的模块化电性检测头及其测试针

说明书

本实用新型提供一种可替换的模块化电性检测头及其测试针，该可替换的模块化电性检测头是中空帽型薄壳状导电结构，且具有一中空帽型鞘套部、一环形帽沿部及一形变回复缺口，中空帽型鞘套部为管状结构，环形帽沿部为片状结构并由中空帽型鞘套部一端向外延伸形成且表面设有复数凸出结构，形变回复缺口由该中空帽型鞘套部一端弯折经过该环形帽沿部并延伸至该环形帽沿部边缘，据此施力使形变回复缺口靠合并于中空帽型鞘套部置于测试针本体的穿孔后，当形变回复缺口复归时即可让中空帽型鞘套部撑抵于穿孔的内表面。如此可达到快速且简易的更替功效，且相较于传统的测试针结构，本实用新型除了制造简易也具有更低廉的生产成本。

技术领域

本实用新型涉及电性检测产品领域，尤其是一种将电性检测头予以模块化设计，而可达快速更换受损组件且大幅降低测试针成本的可替换的模块化电性检测头及具可替换的模块化电性检测头的测试针。

背景技术

于电子装置生产过程中，一重要的环节即为在电子装置组装后，对其导电与信号传输状态进行检测的作业。此程序乃为了确保电子装置各零组件组装后系符合产品规格需求，避免因各种可能的因素影响终端产品状态。

电性检测作业中，因应不同的检测对象，选用的电性检测装置也有所不同，目前系以通过电性测试针作为检测的主要组件，通过让电性测试针接触待测物来取得待测物的电性或信号导通状态。一般来说，电性测试针会对应待测物的电接点分布状态装设于基座上，并每一电性测试针具有供与待测物接触与电性导通的接头。在检测时，基座会朝向待测物移动以使电性测试针的接头接触待测物的电接点，并与其导通据此检测待测物是否符合所需的电性状态。

目前的电性测试针接头系因应不同的待测物类型，系采用车削方式加工制成所需的结构，因此具有相当高的制造成本且需耗费较多的制程时间。另一方面，电性测试针的接头极易因长时间或多次接触待测物的测试应用而有所损坏，此时就须替换，在此种必经的更替过程中，由于接头的生产生本过高，相对地也造成检测装置的应用成本增加，同时于更换上也遭遇诸多不便情况。

有鉴于此，本实用新型人系构思并提出一种可替换的模块化电性检测头及具可替换的模块化电性检测头的测试针，以有效降低产品成本以及提升更换上的便利性。

实用新型内容

本实用新型的一目的，旨在提供一种可替换的模块化电性检测头及具可替换的模块化电性检测头的测试针，其系以生产一可快速组装与拆卸的模块化元件为发明概念，大幅降低接头更换上的不便，同时采用冲压方式制成也可降低生产成本与所需时间，有效改善现有测试针的各种缺失。

为达上述目的，本实用新型于一实施例中系提出一种可替换的模块化电性检测头，其特征在于：该可替换的模块化电性检测头为中空帽型薄壳状导电结构，且具有一中空帽型鞘套部、一环形帽沿部及一形变回复缺口，该中空帽型鞘套部是管状结构，该环形帽沿部为供以电性接触的部分且呈片状结构，并该环形帽沿部由该中空帽型鞘套部一端向外延伸形成且表面设有复数凸出结构，由该中空帽型鞘套部一端弯折经过该环形帽沿部并延伸至该环形帽沿部边缘；通过该形变回复缺口受力靠合与未受力复归的变化，能够用于该可替换的模块化电性检测头的替换与安装。通过将测试针接头元件结构模块化的方式，系有利于更换组装作业，利用帽型薄壳状的结构与其上的形变回复缺口，即可让模块化电性检测头快速且稳固地组装于检测电性用的测试针上，无须再通过其他组件予以固定，于替换上也具有极佳的便利性。